(薄厚膜混合集成电路)第3章 厚膜材料.ppt

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微电子与固体电子学院 杨邦朝 2011.05.25 组成: (1)功能材料:赋予浆料导电、电阻、介质的性能; 主要有:金属或金属氧化粉末、玻璃。 (2)溶剂:有机溶剂:松油醇、贴品醇、醋酸丁基卡 必醇酞酸二丁酯、异丁酸三甲基胺戊二醇 作用:分散固体成分、调节粘度,便于丝网印刷。 这些溶剂在干燥和初始烧结阶段被去除。 贵金属厚膜导体浆料是以Pt、 Au、Pd、 Ag等金属及其合金作为导电相的导体,其性能稳定、工艺成熟。 银导体虽然导电性能好、成本也较低,但在高温、高湿和强电场作用下会产生银离子迁移,造成元器件失效。银导体还容易与电阻浆料起反应,如与Pd-Ag玻璃釉电阻反应严重。   常用的贵金属导体有: Ag基(Ag、Ag-Pd、Ag-Pt、Ag-Pd-Pt)导体 Au基(Au、Au-Pd、Au-Pt、Au-Pt-Pd)导体 1、纯Ag导体 组成:导电相 :Ag粉 粘结相:Pb- B-Si 玻璃粉 性能:导电性好,附着力强、可焊性好、 成本低。 缺点:高温、高湿和强电场作用下会发生银 离子迁移(也叫飞银)现象。 银离子迁移: 现象: 当银作为电极流过直流电流时,从阳极来的银在阴极呈树枝状生长,导致短路发生。 产生原因: 首先银以Ag+状态溶在基质(树脂粘结剂)吸 附的水分中,Ag+与水中的 OH-反应生成 AgOH,AgOH极不稳定,立即分解为Ag+ , Ag+又经还原反应析出。 2Ag++ OH- →2AgOH 2AgOH→2Ag++OH- Ag+ + e →Ag 还原成金属Ag析出造成短路。 银迁移发生条件: 1.电势差,可小至1V; 2.介质有污染; 3.湿气形成液体膜。 形成端头相对的导体图案,端头间隙,代表以后电路要使用的导体间隔。 在间隙上加上一个小的偏压(1~2V)。 用去离子水桥接间隙,对于有强迁迁移倾向的金属,几秒钟内就可在负端看到枝状物生长。 解决方法: 使用改性粘结剂以减少水分; 使用银浆料的部件置于气密条件下,进行气密封装,让银浆料在上下夹心的保护下阻止水分的侵入。 在银浆中,加入Pd粉 加入CdO等氧化物改性剂 2、Ag-Pd导体: Ag-Pd导体是厚膜电路中目前应用最广泛的 一种导体,与目前常用的电阻材料的相容性好,Pd 含量高时可与Pd-Ag电阻同时烧成,Pd含量低时可 与Ru系电阻同时烧成。 组成:导电相:Ag(主要的导电相)、少量的Pd (抑制Ag+迁移、生成Pd-Ag合 金,束缚Ag+的活性)。 粘结相:Pb- B-Si 玻璃粉 Ag的含量 导电性 银离子的迁移 Pd含量 银离子迁移 导电性 当Pd含量10%时,银离子迁移 Pd含量常在15~25wt%,典型值为20wt%。 性能: 烧结温度:700~1000℃,保温时间10min. 方阻:25~40mΩ/□. 缺点:高温下Pd易氧化成PdO, PdO为半导体物 质,使导电性和可焊性下降。   Ag-Pd导体的组成和特性 从上表可知,浆料中一般要加入Bi2O3,为了 增加导体的附着强度,提高导体的焊接性能。 原因: 1. Bi2O3为助熔剂,烧结时可熔入玻璃,成为 玻璃的一部分,这相当于玻璃含量增加,所以, 附着强度增加。 2. Bi2O3可与Al2O3基板在820℃时生成低共熔物: Al2O3+ Bi2O3→(Bi·Al)2O3,把导体中的玻璃(Bi)与 基板(Al)结合起来,所以使附着强度增加。 从性能表可看出,导体的老化附着强度低于常温附着强度,原因: 当导体用Sn焊接时(加热),Sn与Bi2O3发生反应: 2 Bi2O3 + 3Sn → 4Bi + 3SnO2 , 将Bi2O3中的Bi还原出来,相当于玻璃含量↓,所以使附着力↓。 Sn和Pd也可生成PdSn3、Ag3Sn等金属间化合物,导致导体膜体积膨胀,从而破坏了玻璃的网状结构使附着强度下降。 提高老化附着力的方法: 采用低Sn的焊料(如Sn:Pb=1:9) 加入少量高价金属氧化物(如:Cu0、ZrO等) 调整配方中Pd的含量以减少Bi2O3 的还

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