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扫描电镜在材料分析中应用 扫描电镜在材料分析中应用 断口形貌 横界面形貌 内部结构 粉末 其他 断口形貌 扫描电镜因其景深大，特别适用于断口分析。材料在各种条件下的断口形貌是十分重要的。扫描电镜允许在很宽的倍率范围内连续观察，可以对断口进行低倍(约10倍)大视域观察，并在此基础上确定感兴趣的区域(例如裂纹源)进行高倍观察分析，显示断口形貌的细节特征，揭示断裂机理。 横界面形貌 内部结构 粉末 复合材料 在观察和分析复合材料的显微组织时，充分利用扫描电镜景深大的特点，可获得其他显微镜所无法解决的三维立体形态的显示，为进一步分析组成相形成机理及其三维立体形态特征提供了一种有效的方法。 高分子材料 管状物的观察 二维纳米线数束的观 纳米带的观察 * * TRIP钢断口纤维区 陶瓷断面 钢断口的SEM Fracture surface of an Al2O3 sample SEM cross-sectional view of the interface between Si and ASF crystal layer 石英的内部结构 SEM of the internal structure of a snottite sampled 二氧化钛粉末 PE130 (a LLD LMW PE) 不锈钢 单壁纳米碳管 复合材料SEM照片 同一样品A: SEM 照片；B：TEM 照片(插图为HRTEM 照片) (ref：Adv. Mater., 2003, 15, 353-387) A: 二维纳米线数束示意图 B：真实样品的SEM 照片 (ref：Adv. Mater., 2003, 15, 353-387) * *
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