集成电路功能测试解剖.doc

院 系： 信息院 专业班级： 姓 名： 学 号： 实验名称： 集成电路功能测试 课程名称： 微电子电路实验 集成门电路功能测试 1.9a.1 实验目的 熟悉逻辑值与电压值的关系。 掌握常用逻辑门电路逻辑功能及其测试 熟悉硬件基础电路实验箱的基本功能和使用方法。 1.9a.2 实验仪器设备与元器件 1．硬件基础电路实验箱，双踪示波器，数字万用表。 2．74LS00， 74LS04，74LS08，74LS32，74LS86各一块。 1.9a.3 实验概述 要求预习：预习本次实验的全部内容, 了解各门电路的外部引脚排列及功能验证方法；了解所使用的数字实验装置；画出实验电路原理图。 逻辑值与电压值 在数字电路中，逻辑“1”与逻辑“0”可表示两种不同电平的取值，根据实际取值的不同，有正、负逻辑之分。正逻辑中，高电平用逻辑“1”表示，低电平用逻辑“0”表示；负逻辑中，高电平用逻辑“0”表示，低电平用逻辑“1”表示。 逻辑电路的输入与输出仅表示某种逻辑状态（“1”或“0”），而不表示具体的数值。由于在数字电路中只关心信号的有无即电位的相对高低，故多少伏以上算为高电平、多少伏以下算为低电平，不同场合，规定有所不同。 门电路的基本功能 集成门电路是组成各种数字电路的基本单元，它是一种条件开关电路，它的输出信号与输入信号之间存在着一定逻辑关系，基本逻辑关系是与门、或门、非门三种。与、或、非、与非、或非和异或等基本逻辑门电路为常用的门电路，表达它们的逻辑关系用真值表、逻辑表达式和逻辑符号。图1.9a.2 是TTL与非门74LS00的逻辑电路及逻辑符号。A，B为逻辑门的输入端，Y为输出端，当A，B中有一个端接低电平0.2V时，多发射极三极管T1中必有一个发射结导通，并将T1的基级电位箝位在UIL+0.7 V=0.9V上。此时T2，T5截止，T3 ，T4导通，输出为高电平UOH。当A，B同时接高电平UIH时，T2，T5导通，T3 ，T4截止，Tl的基级电位箝位在2.1 V，输出为低电平UOL。输出与输入的逻辑关系为Y=AB。 (a) 与非门 逻辑符号 (b) 逻辑电路 图1.9a.2 74LS00逻辑电路 逻辑符号 数字集成电路的引脚识别及型号识别 集成电路的每一个引脚各对应一个脚码，每个脚码所表示的阿拉伯数字(如l，2，3，…)是该集成电路物理引脚的排列次序。使用器件时，应在手册中了解每个引脚的作用和每个引脚的物理位置，以保证正确地使用和连线。从图1.9a.2可见，双列直插式集成与非门电路CT74LS00。 图1.9a.2 数字集成电路的脚码及型号 集成电路有定位标识，帮助使用者确定脚码为l的引脚；定位标识有半圆和圆点两种表达形式，最靠近定位标识的引脚规定为物理引脚的第l脚，脚码为l，其他引脚的排列次序及脚码按逆时针方向依次加l递增。 器件的型号： CT74LS00 C(或M) J (或D或P或F) ①②③ ④ ⑤ 说明：① C：中国； ② T：TTL集成电路： ③ 74：国际通用74系列(如果是54，则表示国际通用54系列)，LS：低功耗肖特基电路，00：器件序号为四2输与非门；④ C：商用级(工作温度O～70℃)，M：-55～125℃ (只出现在54系列)；⑤ J：黑瓷低熔玻璃双列直插封装，D：多层陶瓷双列直插封装，P：塑料双列直插封装，F：多层陶瓷扁平封装。 如果将型号中的CT换为国外厂商缩写字母，则表示该器件为国外相应产品的同类型号。例如，SN表示美国得克萨斯公司，DM表示美国半导体公司， MC表示美国摩托罗拉公司，HD表示日本日立公司。 集成电路元件型号的下方有一组表示年、周数生产日期的阿拉伯数字，注意不要将元件型号与生产日期混淆。 数字电路的测试 常对组合数字电路进行静态和动态测试，静态测试是在输入端加固定的电平信号，测试输出壮态，验证输入输出的逻辑关系。动态测试是在输入端加周期性信号，测试输入输出波形，测量电路的频率响应。常对时序电路进行单拍和连续工作测试，验证其状态的转换是正确。本实验验证集成门电路输入输出的逻辑关系，实验在由计算机电路基础实验箱和相关的测试仪器组成的物理平台上进行。 计算机电路基础实验箱广泛地应用于以集成电路为主要器件的数字电路实验中，它的主要组成部分有： 直流电源：提供固定直电源和可调电源。 信号源：单脉冲源