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数字系统设计基础实验指导书2
前 言
通过基本门电路性能测试实验使学生掌握基本门电路的工作原理、门电路的外特性(IC门电路的引脚排列顺序,输入/输出电平要求等);通过计算机仿真技术使学生掌握组合逻辑电路的设计方法,掌握触发器功能及其波形关系,掌握时序电路的设计方法,培养学生的实践动手能力和实验技能。
目 录
第一章数字电路实验基本知识
数字集成电路封装
数字电路实验逻辑规定
数字电路实验测试及故障查找、排除
数字系统设计实验步骤
第二章 数字系统设计实验器材
基本实验仪器
实验所需设备:数字电路实验装置,示波器,万用表,直流电源,计算机
数字系统设计实验系统
第三章 数字系统设计实验
实验一、基本逻辑门逻辑实验)
基本逻辑门电路参数测试
实验二、组合逻辑电路部件实验
组合逻辑电路实验
实验三、时序电路设计
触发器与移位寄存器实验,计数器实验
实验四、基于HDL(VHDL,Verilog)基本逻辑电路设计
1.分频器实验
2.多路选择器实验
3.BCD-7段译码器实验
4.定时器实验
实验五、综合实验
第一章 数字电路实验基本知识
一、数字集成电路封装
中、小规模数字集成电路中最常用的是TTL电路和CMOS电路。TTL器件型号以74(或54)作为前缀,称为74/54系列,譬如74LS00、74F181、54S86等。中、小规模CMOS数字IC电路主要是4XXX/5XXX(X代表0~9的数字)系列,高速CMOS电路HC(74HC系列),与TTL兼容的高速CMOS电路HCT(74HCT系列)。TTL电路余COMS电路各有优缺点,TTL速度高,CMOS电路功耗小、电源范围大、抗扰能力强。
数字集成电路器件有多种封装形式。实验中所用的74系列器件封装选用双列直插式(DIP),图1示是双列直插封装的正面示意图。双列直插封装有以下特点:
1、从正面看,器件一端有一个半圆缺口,这是正方向的标志。IC芯片的引脚序号是以次半圆缺口未参考点定位的,缺口左下边的第一个引脚编号为1,IC引脚编号按逆时针方向增加。图中的数字表示引脚编号。DIP封装的数字集成电路引脚数有14、16、20、24、28等多种。
2、DIP封装的器件有两列引脚,引脚之间的间距为2.54毫米,两列引脚之间的距离有宽(15.24毫米)、窄(7.62mm)两种。两列引脚之间的距离能够作微小改变,但引脚间距不能改变。将器件插入实验平台上的插座(面包板)或从其上拔出时要小心,不要将器件引脚搞弯或折断。
3、74系列器件一般右下角的最后一个引脚是GND,右上角的引脚是Vcc。例如,14引脚器件引脚7是GND;引脚14 是Vcc;16引脚器件的8引脚是GND,16引脚是Vcc。但也有例外,如16引脚的双JK触发器74LS76,引脚13是GND,引脚5是Vcc。因此,使用集成电路器件时要先看清楚它的引脚分配图,找对电源和地引脚,避免因接线错误造成器件损坏。
二、复杂可编程逻辑器件(CPLD)封装
数字电路实验系统上,使用的复杂可编程逻辑器件EPM7128SLC84是84引脚的PLCC(Plastic Leaded Chip Carrier)封装,图2是封装正面。器件的正面上方的小圆点指示引脚1,引脚编号按逆时针方向增加,引脚2在引脚1的左边,引脚84在引脚1的右边。EPM7128的电源引脚号、地引脚号有多个,插PLCC器件时,器件正面的左上角(缺角)要对准插座的左上角。拔PLCC器件应使用专门的起拔器。
当然,CPLD器件还有TQFP(PQFP、RQFP)及BGA封装,他们在更小的封装尺寸提供更多的引脚数目。
必须注意:不能带电插拔器件。插拔器件、连接或安装线路只能在关断电源的情况下进行。
三、数字电路逻辑状态规定
数字电路是一种开关电路,开关的两种状态“开通”与“关断”,常用二元常量0和1来表示。数字电路的输入、输出量,一般用高、低电平来表示,输出量与输入量之间的关系是一种因果关系,这种因果关系可以用逻辑表达式来描述,因此数字电路又称为逻辑电路,数字电路的状态0和状态1也称为逻辑状态0和逻辑状态1。在数字逻辑电路中,区分逻辑电路状态“1”和“0”信号的电平一般有两种规定,即正逻辑和负逻辑。正逻辑规定,高电平表示逻辑“1”,低电平则表示逻辑“0”。负逻辑规定,低电平表示逻辑“1”,高电平则表示逻辑“0”。工程中多数采用正逻辑描述。对于TTL电路正逻辑“1”电平在2.4~3.6V之间,逻辑“0”电平在0.2~0.4V之间。
四、数字电路测试机故障查找、排除
数字电路测试
数字电路测试一般分为静态测试与动态测试两部分。静态测试指的是,给定数字电路若干组静态输入值,测定数字电路的输出值是否正确。数字电路状态测
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