第8-1章密度测井和岩性密度测井.ppt

第八章 密度测井和岩性密度测井 此两种测井方法是由伽马源向地层发射伽马射线，经与地层介质相互作用后，再由伽马探测器接收（即为伽马-伽马测井），地层不同，探测器记录的读数不同，从而被用来研究地层性质。 第一节 密度测井、岩性密度测井的地质物理基础 一、岩石的体积密度ρb （即真密度） 二、康普顿散射吸收系数Σ 三、岩石的光电吸收截面 一 岩石的体积密度 一 岩石的体积密度 （1）组成岩石的骨架矿物不同，ρma不同，如石英为2.65，方解石为2.71，白云石为2.87，对于相同孔隙度得到的体积密度也就不同，由此可判断岩性；另一方面，利用体积密度计算孔隙度时，必须得先确定岩性。 （2）孔隙性地层的密度小于致密地层，且随着φ的增加ρb减小，由此可求φ。 二 康普顿散射吸收系数σ 中等能量射线与介质发生康普顿散射康普顿散射而使其强度减小的参数(康普顿减弱系数---由康普顿效应引起的伽马射线通过单位距离物质减弱程度)： （1）化合物的康普顿散射系数 对于化合物来说，则可以表示为 (2)电子密度指数 为了计算物质体积密度，引入电子密度指数re （3）伽马源的选择 当伽马光子的能量hu0.1MeV，伽马射线与介质的作用以光电效应为主，当hu1.022MeV才发生电子对效应，因此，密度测井要求选择能量适当的伽马源，使伽马射线与介质的相互作用以康普顿效应为主，密度测井场选用Cs137为伽马源。伽马探测器记录能量较高的一次或多次散射伽马光子，就很大程度避免了光电效应，定义质量康普顿减弱系数 三 岩石的光电吸收截面 1、线性光电吸收系数（岩石宏观的光电吸收截面） 当γ的能量大于原子核外电子的结合能时，发生光电效应的概率， 三 岩石的光电吸收截面 2、岩石的光电吸收截面指数Pe 它是描述发生光电效应时物质对伽马光子吸收能力的一个参数，即伽马光子与岩石中一个电子发生光电效应的平均光电吸收截面，单位b/电子。而它与原子序数关系为： Pe=SA/Z=aZ3.6 a为常数，地层岩性不同，Pe有不同的值，也就是说Pe对岩性敏感，可以以来确定岩性，Pe是岩性密度测井测量的一个参数,通常a选取10-3.6。 三 岩石的光电吸收截面 化合物的光电吸收截面应该是该分子中个原子光电吸收截面的总和， 三 岩石的光电吸收截面 3、体积光电吸收截面 体积光电吸收截面也是描述发生光电效应时物质对伽马光子吸收能力的一个参数，它是指每立方米物质的光电吸收截面，以U来表示，单位b/cm3。 三 岩石的光电吸收截面 如孔隙度为φ的纯砂岩的光电吸收截面为： 第二节 地层密度测井 1、测井仪 (1)下井仪：极板型，贴井壁测量，其中：滑板由伽马源、伽马探测器、屏蔽体三部分组成。 伽马源（Cs137）—发射能量为0.661Mev的单能伽马射线。 （2）伽马探测器是由单伽马探测器和双伽马探测器（即：补偿密度测井仪，又有长源距和短源距之分）组成。 （3）屏蔽体—使源发射的光子不能直接到达探测器。 第二节 地层密度测井 2、测井原理 由源发射0.661Mev的射线（排除电子对形成的可能性）—照射地层发生康普顿效应（采用能量窗口，避免光电效应的影响）—散射射线到达探测器—计数率N。 地层密度ρb不同，对伽马光子的散射吸收能力不同，仪器记录的计数率不同，测井仪采用的正源距L下，ρ增大，N减小。 2、测井原理 伽马光子的计数率取决于（1）伽马射线经过地层一次或多次反射后能到达探测器光子数，（2）散射的伽马光子经过在反射和吸收的光子数。 当源距较近时，密度越大，伽马光子计数率越高？ 当源距较远时，密度越大，伽马光子计数率越高？ 第二节 地层密度测井 第二节 地层密度测井 实际测井中，泥饼影响不可忽视，为此，采用双源距探测器的补偿密度测井仪，其中，长源距的计数率受泥饼影响小，短源距受影响大，用长源距得到一个视地层密度ρbˊ，再由长短源巨计数率得到泥饼校正值Δρ ，则地层密度ρb= ρbˊ + Δρ 。最终得随深度变化的一条ρb曲线和Δρ曲线。 第二节 地层密度测井 3、应用 （1）识别岩性（不单独用）。 第三节 岩性密度测井 一、岩性密度测井的基本原理 二、岩性密度测井的应用 2、伽马射线的能谱成分 一 岩性密度测井的基本原理 伽马源产生的单能γ射线照射地层，其高能谱段的γ，只受康普顿效应影响，低能谱段，主要受光电效应的影响。在高能区设立窗口，计数γ计数率，确定地层密度，为补偿泥饼的影响，采用长短两个探测器，得到地层密