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led来料检验规范 篇一：LED光源检验规范 LED光源检验规范 1.目的： 规范LED光源的来料检验标准，以确保供应商来料符合本司或客户品质要求 。 2.范围： 本公司所有LED光源均适用于本检验规范，客户另有要求或另有规范时，依客户规定执行。 3.定义： 3.1 小功率LED：功率在1W以下的LED（也有指0.2-1W为中功率，0.1W以下为小功率LED的，这里不再细分）。 3.2大功率LED: 功率在1W以上的LED。 4 . 抽样标准： 按QSI-077《抽样检验作业指引》进行抽样检验。 5.检验项目与标准： 注：6.2-6.9按每批每个BIN段10PCS进行抽样，6.10-6.11按每批5PCS进行抽样，其余项目(可靠性项目除外)按AQL进行抽样。新供应商提供的新品号的LED需进行可靠性测试，后续每12个月对每个供应商的货品进行一次可靠性抽样测试。 6.参考文件 6.1《抽样计划作业指引》 6.2 产品承认书 7.相关表单： 表单名称7.1【IQC进料检验报告】 篇二：LED进料检验规范 篇三：LED芯片来料检验规范 版 本：R5 擬案單位：工程部／ALLAN 1. 目的 2. 範圍3. 內容 3.1 檢驗測試項目 3.1.1 3.1.2 3.1.3 光電性檢驗 外觀檢驗 數值標示檢驗。 本公司生產之所有LED產品均屬之。 1.1 制訂LED CHIP FQC檢驗規範。 1.2 訂定成品入庫批允收程序，以確保產品品質達一定水準。 3.2 抽樣計畫（片數定義：晶片片數） 3.2.1 3.2.2 依「產品檢驗抽樣計劃」(WI-20-0101) 抽片執行檢驗。 光電特性檢驗（VFH、VFL、IV） （1）抽樣位置：分頁片邊緣4顆，分頁片內圍6顆，均勻取樣。 （2）抽樣數量：每片10顆。 （3）每片抽樣數，每一顆不良，則列一個缺點。 外觀檢驗 3.2.3 （1）PS TYPE不良晶粒＞2ea／sheet，列入一個缺點。 （2）NS TYPE或PS TYPE分頁面積最長距離＜6.5 cm者，不良晶粒＞ 5ea／sheet，且＞10 ea／wafer 列入一個缺點。 （3）缺點項目之限樣標準由製造、FQC兩單位共同製作，作為人員檢驗之依據。 3.3 缺點等級代字 3.3.1 3.3.2 主要缺點代字：MA（Major）。 次要缺點代字：MI（Minor）。 3.4 參考文件 3.4.1 本公司產品目錄規格書 版 本：R5 擬案單位：工程部／ALLAN 3.4.2 3.4.3 研發工程產品測試分類規格 其他相關之品質文件 4. 光電特性檢驗 4.1 順向電壓VFH 4.1.1 4.1.2 依特定之額定電流點測，頇低於規格上限。 規格上限應參考測試分類規格及GaP、GaAsP、AlGaAs產品T/S前測站 作業指導書。 缺點等級：MA 4.1.3 4.2 順向電壓VFL 4.2.1 4.2.2 依特定之額定電流點測，頇高於規格下限，低於上限。 規格：GaP1.5V，GaAsP1.3V，AlGaAs (1.25VFL≦1.5V)，IR (0.70~1.0 V)。 缺點等級：MI 4.2.3 4.3 亮度Iv / Po 4.3.1 4.3.2 4.3.3 依特定之額定電流點測，頇高於規格下限。 規格下限應參考測試分類規格及各產品T/S前測站作業指導書判定。 缺點等級：MA 5. 外觀檢驗﹙共同標準﹚ 版 本：R5 擬案單位：工程部／ALLAN 版 本：R5 擬案單位：工程部／ALLAN 版 本：R5 擬案單位：工程部／ALLAN 6. 2016学年第一学期 教学工作计划 5