光电成像非均匀性校正.pptVIP

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  • 2016-12-29 发布于重庆
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第6讲 基于参考辐射源的 非均匀性校正算法 ? 6.1 非均匀性校正原理 ? 6.2 基于参考辐射源的非均匀性校正 ? 6.3 一点校正算法 ? 6.4 两点校正算法 6.1 非均匀性校正原理 在红外焦平面阵列中,虽然每一个单元探测器的响应函数是一个非线性函数,但是在一个较小的工作范围内,探测器的响应曲线可以近似地看作为直线,且假定探测器的响应具有时间上的稳定性,则红外焦平面阵列中单个探测器的响应输出可以用一个线性方程来表示 焦平面阵列的非均匀表现为各探测器单元之间 但是,这种方法校正的缺点: 辐照度和输出信号难以同时被精确地测量,而且定标辐射源不稳定的影响很大,所以实现起来很难。 于是人们就提出了多种基于参考辐射源的非均匀性校正算法。 6.2 基于参考辐射源的非均匀性校正算法 基本思想: 1)利用参考辐射源给红外焦平面阵列提供均匀的辐照度,对每个探测器单元的响应输出进行测量; 2)由此计算得出各探测器单元的校正参数; 3)当红外焦平面阵列接收到实际目标场景辐照度时,用各探测器单元的相应校正参数对其输出进行实时的校正。 按参考辐射源定标点的个数分为 一点定标校正 两点定标校正 多点定标校正 一般来说,由于探测器单元的响应特性并非呈理想的直线,所以参考定标点越多,即插值节点越多,校正精度越高。 6.3 一点定标校正算法

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