μの寿命測定とRPCの作成-osksn2.hep.sci.osaka.pptVIP

μの寿命測定とRPCの作成 山中卓研　2005年12月19日B４ 目次 1.前期???μの寿命測定 2.後期???RPCの作成と 　 RPCを利用した実験の見積もり 1.1目的 1.2 μ粒子の寿命 時刻 ｔ に存在するμの個数をＮ，単位時間あたりにμが崩壊する確率を λ（崩壊定数）とすると、 微小時間 dｔ の間に崩壊するμの個数 dＮ は　 　　　　　　　　　dＮ ＝ －λＮ dｔ　である。 　これより　　dＮ／Ｎ ＝ －λ dｔ 　　　　　　　　logｅＮ ＝ －λｔ＋ｃ 　t＝０におけるμの数を　Ｎ0 とすると 　　　　　　　　Ｎ ＝ Ｎ0ｅ－λｔ　 　　　　　　　　　　＝Ｎ0ｅ－ｔ/τ　 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 （τ（寿命）＝ 1／λ） となるのでグラフはexponentialでfittingできる。 　　　　　　　　　　　　　　　　　　 1.3 Set up 1.4 回路 1.6 生データ 1.7 バックグランド バックグランドの要因は？ 　　　　　　?①熱電子による信号を偶然観測した（?３５Hz×４枚） 　　　　　　　 ②別のミューオンが偶然降ってきた（?１０Hz） それはどの程度の頻度で起こるのか 　　２つの信号の偶然同時計数の頻度λは???