オルソポジトロニウムの寿命測定による束縛系QEDの精密検証.pptVIP

オルソポジトロニウムの寿命測定による束縛系QEDの精密検証 東大素粒子センター 片岡洋介 浅井祥仁、小林富雄、田中純一 イントロダクション 束縛系 高次輻射補正の扱いが難しく、未だ一般的な計算手法が確立せず しかし近年、色々な計算手法が提案されている これらは実験的に検証しなければならない オルソポジトロニウム（o-Ps）が最も有効なプローブ 純粋にレプトンの系　(e+e-の束縛状態)、 ハドロンのような強い力に伴う不定性がない 寿命の直接測定が可能　寿命約142ns O(α2)の計算が提案された手法で 　 実際に行われている 240ppmのO(α2)の補正を精密検証する 　　 ことが本実験の目的 現在の状況 70、80年代 o-Psの寿命問題 理論計算とのsystematicなズレ 90年代 東大グループの実験で解決 o-Psの熱化過程の取り扱いが 不適切であった 2000年代 ミシガン大もこれを認める 現在の実験精度　約200ppm O(α)の補正(約2%)は十分に検証された O(α2)の補正(240ppm)を検証する 　さらに精密な測定が必要(60ppm程度) オルソポジトロニウムの寿命測定 3γに崩壊 pick-off 東大グループのアプローチ Ge検出器でエネルギースペクトルを測る モンテカルロの3γスペクトルをnormalize