东南大学 光电子物理实验报告3.docVIP

实验目的 掌握F-P标准具、F-P扫描干涉仪的原理和使用方法 掌握He-Ne激光器横模模式的观察和测量 掌握多光束干涉法测量激光线宽的原理及方法 掌握用腔内损耗法测量激光参数的原理和方法 根据自动测试系统测得的曲线，取适当的数据，编写程序，利用计算机进行计算 通过对激光器增益等参数的测量，对激光器的工作过程有进一步的了解 实验原理 激光横模的观察和测量 为了简单起见，我们只讨论基模，即TEM00模，这个基模的光斑形状为图1所示。 图1 这个模的电矢量E的振幅为： 这种光场分布是高斯光束，所以成这样的光束为高斯光束。如果记 则 当ρ=0，z=0时（即束腰的中心），电矢量振幅A得知最大，为 而当ρ0=w0 通常将电矢量振幅降到中心值的1/e处时的径向距离称为光斑半径，用w(z)表示，w(z)作为光斑大小的量度，w0为z=0处的光斑半径，通常称之为激光光束的腰粗。 在实际测量中，都是测量光强，因为光强与电矢量振幅之间的关系为： 所以激光束的横向光强分布为: 当ρ=0时，I(0,z)=I0(z)可以测出谐振腔轴上（即光斑中心）的光强随着光束不同位置时的值。 当z值固定时， 这样可以测出，随着径向不同位置ρ时的光强值。光强随ρ而改变的关系由纪录仪直接给出，如图2。 图2 由光强的高斯分布曲线（图2）可以找出光强下降到光斑中心光强的1/e2处位置，这点离光斑中心的距离就为该处的光斑半径w(z)。可以由w(z)与束腰w0之间的关系式求得w0，其关系式为 激光光束尽管方向性很好，但也不是理想的平行束，而具有一定的发散角。根据发散角定义： 将(4)式代入(5).，并当z=∞时，可以求出 此为远场发射角的表达式。可以通过求得得w0来计算。 也可以测出不同z之间光束的发散角，测量方法为：分别测出z1、z2两处的光斑半径w(z1)、w(z2)，那么可以直接标出光束的发散角，如图3。 图3 则 激光的横模测量原理：由马达驱动的前面开小孔的硅光电池沿光束径向逐点扫描，测得不同ρ处的光强，将硅光电池的信号输入计算机，得到光强沿径向的分布曲线。如图4。 图4 激光线宽的测量 激光器输出的光束具有单色性、高亮度、高方向性和高相干性的特点，正是由于它的高相干性，使之在测量、全息的技术中得到广泛的应用。但是，虽然激光的单色性很好，她仍无可避免的存在着一定的线宽。理论计算表明，单纵模激光器的线宽极限为： 其中：N2,N1分别是激光上下能级的粒子数密度，Δνc是无源谐振腔的线宽。这是激光线宽的极限值，数量级一般为10-3赫。实际上，由于各种因素所引起的纵模频率漂移，以及各种因素引起的谱线增宽，使得激光线宽远远大于这一量值。激光线宽是表征激光特征的一个重要的参数，它反映激光辐射的单色性和相干性。由于应用上的需要，测量激光线宽成了激光参数测量中的重要课题。由于各种激光器输出特性以及线宽数量级各不相同，因而可采取不同的线宽测量方法：线宽较窄时，利用多光束干涉法测量，并根据激光输出谱线的波长及是否为脉冲输出，采取不同的记录方法或探测方法：对于数量级在兆赫以下的谱线宽度，可以用拍频和外差技术测量。本实验是利用多光束干涉法测量He-Ne激光线宽的。 实验装置如图7所示： 图7 图1L1位发散透镜，L2为长焦距会聚透镜。 由He-Ne激光器输出的激光束经发散透镜发散后均匀地照在F-P标准具上，由于F-P标准具两个镀膜平面是平行的，且此时所用的光源为扩展光源，所以，将产生等倾干涉。 由物理光学知：光通过标准具后出现亮条纹（相干加强）的条件是： 式中n为F-P标准具的折射率，L为F-P标准具的间隔，θ为在两镀膜平面间反射光与平面法线的夹角，m为干涉级次。 有F-P产生多光束干涉后经会聚透镜会聚，在其焦平面上得到一组同心干涉环，将卸下镜头的照相机感光底片置于焦平面位置进行照相，便可得到干涉环的照片。 由（2）是可以看出：在同一干涉级次，不同的λ，就对应于不同的θ角，因而，当入射光具有线宽Δλ时，对同一级干涉环，θ有一变化范围Δθ，从而在感光底片上得到的干涉环半径也有一个变化范围Δr。 对（2）式两边微分得： 即 如图8所示 图8 d1，d2分别为第m级干涉条纹内外直径，在近中心处： 则 将（4） 根据式(6):测量底片上近中心条纹的同级干涉环内外直径d1，d2并根据测得的长焦距透镜焦距，就可计算出激光的线宽。 实验系统布局图 由实验系统布局图9可以看出，激光纵横模及线宽测量实验系统由（1）（2）（3）三支光路组成。其中，（1）为激光线宽测量实验，它由He-Ne激光器、扩束镜、透镜L1、F-P、透镜L2、光屏及摄像头组成。（2）为激光纵模测量实验，它由He-Ne激光器、全反镜R1,R2、锯齿波发生器、共焦球面扫描干涉仪、光电接收