02超声检测通用工艺规程-NB-T47013.docxVIP

1 适用范围1.1本部分规定了承压设备采用A型脉冲反射式超声检测仪检测工件缺陷的超声检测方法和质量分级要求。1.2本部分适用于金属材料制承压设备用原材料或零部件和焊接接头的超声检测，也适用于金属材料制在用承压设备的超声检测。1.3本部分规定了承压设备厚度的超声测量方法。1.4与承压设备有关的支承件和结构件的超声检测，也可参照本部分使用。2 编制依据NB/T 47013.1-2015《承压设备无损检测》 第1部分：通用要求NB/T 47013.3-2015《承压设备无损检测》 第3部分：超声检测3 一般要求3.1 超声波检测人员3.1.1从事承压设备超声波检测的人员，应按照国家特种设备无损检测人员考核的相关规定取得相应无损检测人员资格。3.1.2超声检测人员应具有一定的金属材料、设备制造安装、焊接及热处理等方面的基本知识，应熟悉被检工件的材质、几何尺寸及透声性等，对检测中出现的问题能做出分析、判断和处理。3.2 检测设备和器材3.2.1 仪器和探头产品质量合格证明超声检测仪器产品质量合格证中至少应给出预热时间、低电压报警或低电压自动关机电压、发射脉冲重复频率、有效输出阻抗、发射脉冲电压、发射脉冲上升时间、发射脉冲宽度(采用方波脉冲作为发射脉冲的)以及接收电路频带等主要性能参数；探头应给出中心频率、带宽、电阻抗或静电容、相对脉冲回波灵敏度以及斜探头声束性能(包括探头前沿距离(人射点)、K值(折射角β等)等主要参数。3.2.2检测仪器、探头和组合性能3.2.2.1检测仪器采用A型脉冲反射式超声检测仪，其工作频率按-3dB测量应至少包括O.5MHz～10MHz频率范围，超声仪器各性能的测试条件和指标要求应满足NB/T 47013.3-2015附录A的要求并提供证明文件，测试方法按GB/T 27664.1的规定。3.2.2.2 探头圆形晶片直径一般不应大于40mm，方形晶片任一边长一般不应大于40mm，其性能指标应符合NB/T 47013.3-2015附录B的要求并提供证明文件，测试方法按GB/T 27664.2的规定。3.2.2.3 仪器和探头的组合性能3.2.2.3.1仪器和探头的组合性能包括水平线性、垂直线性、组合频率、灵敏度余量、盲区(仅限直探头)和远场分辨力。3.2.2.3.2以下情况时应测定仪器和探头的组合性能:a)新购置的超声检测仪器和(或)探头；b)仪器和探头在维修或更换主要部件后；c)检测人员有怀疑时。3.2.2.3.3水平线性偏差不大于1%，垂直线性偏差不大于5%。3.2.2.3.4仪器和探头的组合频率与探头标称频率之间偏差不得大于±10%。3.2.2.3.5仪器-直探头组合性能还应满足以下要求:a)灵敏度余量应不小于32dB；b)在基准灵敏度下，对于标称频率为5MHz的探头，盲区不大于10mm；对于标称频率为2.5MHz的探头，盲区不大于15mm；c)直探头远场分辨力不小于20dB。3.2.2.3.6仪器-斜探头组合性能还应满足以下要求:a)灵敏度余量应不小于42dB；b)斜探头远场分辨力不小于12dB。3.2.2.3.7在达到所探工件的最大检测声程时，其有效灵敏度余量应不小于lOdB。3.2.2.3.8仪器和探头组合频率的测试方法按JB/T 10062的规定，其他组合性能的测试方法参照JB/T 9214的规定。3.2.3试块3.2.3.1 标准试块3.2.3.1.1标准试块是指具有规定的化学成分、表面粗糙度、热处理及几何形状的材料块，用于评定和校准超声检测设备，即用于仪器探头系统性能校准的试块。本部分采用的标准试块为20号优质碳素结构钢制CSK-IA、DZ-I和DB-PZ20-2。3.2.3.1.2 CSK-IA试块的具体形状、尺寸见本部分，DZ-I和DB-P Z20-2的具体形状和尺寸见JB/T 9214。3.2.3.1.3标准试块的制造应满足JB/T 8428的要求，制造商应提供产品质量合格证，并确保在相同测试条件下比较其所制造的每一标准试块与国家标准样品或类似具备量值传递基准的标准试块上的同种反射体(面)时，其最大反射波幅差应小于等于2dB。3.2.3.2 对比试块3.2.3.2.1对比试块是指与被检件或材料化学成分相似，含有意义明确参考反射体(反射体应采用机加工方式制作)的试块，用以调节超声检测设备的幅度和声程，以将所检出的缺陷信号与已知反射体所产生的信号相比较，即用于检测校准的试块。3.2.3.2.2对比试块的外形尺寸应能代表被检工件的特征，试块厚度应与被检工件的厚度相对应。如果涉及到不同工件厚度对接接头的检测，试块厚度的选择应由较大工件厚度确定。3.2.3.2.3对比试块应采用与被检材料声学性能相同或相似的材料制成，当采用直探头检测时，不得有大于或等于Φ2mm平底孔当量直径的缺陷。3.2.