第4章电子电路故障讲义.pptVIP

第4.2.3节 利用被测系统的应用程序进行测试 3.关系图 将程序母型化后，必须研究变量在程序段中的传播情况，为此，引入关系图的概念。 （1）单条指令关系图 数据传送类 数据处理类 转移类 只改变程序执行顺序，而无实质性操作； 例：IP：JR NZ，PMTB r1 r2 MEM rn i rn r MEM i MEM MEM r2 rn r R MEM i R MEM r1 r2 r1 r1 MEM r1 r1 i r1 r1 r2 PC,SP PC,SP r1 i A PMTB PC+1 （A）=0 （A） 0 电子科大CAT室 第4.2.3节 利用被测系统的应用程序进行测试 （2）程序段的关系图 程序段的关系图由指令关系图连接而成。为了敏化需要，提出变量的概念： 输入变量：该程序段执行之初所需的变量； 输出变量：该程序段执行的结果； 工作变量：该程序段执行过程中的一切变量； 仍以上例有： 1 （ ADCO1） 输入变量 A A n1 工作变量 A n2 A H 输出变量 电子科大CAT室 第4.2.3节 利用被测系统的应用程序进行测试 4.敏化测试 （1）基本概念 通路：通路是一段有序的程序列： 输入必须是命令段----测试输入变量； 输出必须是观察段----测试响应； 最小通路集：程序中所有的一切程序段中一个最小的通路集； 测试：按每条通路逐条进行，在通路的每一个观察点应确定在该点所能观察到的各硬件，功能和指令，并确定该通路可命令点的输入值范围。 （2）测试算法 以程序列为基础进行测试： 程序列的输入变量（测试矢量）------可命令 立即数 不可命令（由通路前面程序的计算值，应 逆流而上寻找可命令点） 中间变量------工作变量(测试对象：硬件，功能，指令） 程序列的输出变量（响应）----------可观察（敏化结果） 不可观察（顺流而下，找到可观察点） 电子科大CAT室 第4.2.3节 利用被测系统的应用程序进行测试 程序列实际有以下情况： (X) (Y) A 1 2 3 5 4 （Z） B C (T) 由图可见： S1程序列 S2程序列 在S1程序列中：通路1是可命令且可观察的----可测试； 通路2是可命令但不可观察----顺流而下； 在S2程序列中：通路3-4是不可命令，但可观察---逆流而上； 通路5既不可命令也不可观察---逆流而上，顺流而下； 可命令 可观察 不可命令 不可观察 电子科大CAT室 （MEM） r i x r1 （MEM） r i r2 1 （MEM） r2 x Y r1 r r r3 （MEM） 逆流而上 顺流而下 顺流而下 r3 r5 r4 r4 r r6 r6 r5 r （MEM） （MEM） （MEM） （MEM） Z Z Y （MEM） （MEM） 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 逆流而上 逆流而上 逆流而上 逆流而上 顺流而下 可命令点 可命令点 可命令点 可命令点 可命令点 可命令点 观察点 T1 可命令点 观察点 T2 观察点 T3 T1={1，3，4，5，6，7，10} T2={9，11，12，14，16} T3={17，18，19，15，8，2，13} 立即数 立即数 顺流而下 三个观察点相当 于三个输出端， 三路全部敏化成功！ 电子科大CAT室 第四章 思考题 微机系统测试的难点是什么？ 微机系统测试的基本原理和方法？ 存储器的故障模型及测试的基本原则？ 存储器测试的基本方法及实施？ 存储器各种测试方法的比较。 微机算法产生测试的原理及实施。 微机功能性测试算法的原理。 利用被测微机应用程序测试的基本原理及实施。 作业：P135 第 1 , 5 题。以周后交 电子科大CAT室 第四章 小测验 1.简述微机系统的结构及其测试的困难性？ 2.如果存储器的存储容量为N，且为全1，如何利用存储器测试的走步法进行测试？并给出测试公式及复杂度。 电子科大CAT室 * 第4章 微机系统测试算法 概述