系统测试分析解析.doc

测试系统结构 测试系统的SNR 测试设备：频谱分析仪 测试目的：评价系统的整体SNR性能，系统噪声的主要来源，并且通过测试，可以知道每一个模块产生的噪声对总体噪声的贡献。 测试过程： 测试子过程1 测试目的：为了区分系统噪声主要来自于APD，还是系统电子线路的热噪声。 在SA5212A 100K ohm电阻，该电阻做为系统的热噪声来源。 在系统输出测试系统噪声 dbm/Hz 将该噪声折算到输入端 dbm/Hz 比较 如果APD的标定噪声小于，则说明APD的噪声并非系统噪声的主要来源。系统需要改进 如果APD的标定噪声大于，则说明APD的噪声直接影响到系统的SNR，系统无需改进。 如果APD的标定噪声相当，则也系统也需要进一步改进系统。 该测试的所有分析见系统分析一节。 测试子过程2 测试目的：如果系统需要改进，找出导致系统噪声的主要来源。 测试原理： 分别测出系统在TA、TB、TC、TD处的噪声， 断开 令这四者均为电压表示的噪声，而增益均为电压增益 其中为第n个网络的噪声因子，为第n个网络的增益。从上式可以看出： 第一、为系统总的噪声稀疏，而A,B,C三点的噪声都对总体点噪声都有贡献。 第二、 如果前级增益大，则可以明显的降低系统总体的噪声系数。 测试过程：测试初始，所有环节均连接。 断开（），测得A点噪声，并通过折算到输入端，这个