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第七章_状态机设计
* * 直接数字频率合成 —— DDS 实 验 (1)实验目的: 用状态机实现序列检测器的设计,并对其进行仿真和硬件测试。 实验7-1 用状态机实现序列检测器的设计 (2)实验原理: 序列检测器的工作原理已在习题7-3中作了说明。 实 验 实验7-1 用状态机实现序列检测器的设计 (3)实验内容1: 仔细完成习题7-3的全部内容,利用MAX+plusII对例7-11进行文本编辑输入、仿真测试并给出仿真波形,了解控制信号的时序,最后进行引脚锁定并完成硬件测试实验。 建议用键7(PIO11)控制复位信号CLR;键6(PIO9)控制状态机工作时钟CLK;待检测串行序列数输入DIN接PIO10(左移,最高位在前);指示输出AB接PIO39~PIO36(显示于数码管6)。下载后:①按实验板“系统复位”键;②用键2和键1输入2位十六进制待测序列数;③按键7复位(平时数码6指示显“B”);4、按键6(CLK) 8次,这时若串行输入的8位二进制序列码(显示于数码2/1和发光管D8~D0)与预置码相同,则数码6应从原来的B变成A ,表示序列检测正确,否则仍为B。 实 验 实验7-1 用状态机实现序列检测器的设计 (4)实验内容2: 根据习题7-3中的习题要求3,提出的设计方案重复以上实验内容(将8位待检测预置数由键4/键3作为外部输入,从而可随时改变检测密码)。 (5)实验思考题: 如果待检测预置数必须以右移方式进入序列检测器,写出该检测器的VHDL代码(两进程符号化有限状态机),并提出测试该序列检测器的实验方案。 (6)实验报告: 根据以上的实验内容写出实验报告,包括设计原理、程序设计、程序分析、仿真分析、硬件测试和详细实验过程。 实 验 实验7-2 用状态机对ADC0809的采样控制电路实现 (1)实验目的:学习用状态机对A/D转换器ADC0809的采样控制电路的实现。 (2)实验原理:ADC0809的采样控制原理已在习题7-6中作了详细说明。 (3)实验内容:利用MAX+plusII对例7-12进行文本编辑输入和仿真测试;给出仿真波形。最后进行引脚锁定并进行测试,硬件验证例7-12电路对ADC0809的控制功能。 实 验 实验7-2 用状态机对ADC0809的采样控制电路实现 测试步骤:根据附图1-12,建议引脚锁定为:START接PIO34,OE接PIO35,EOC接PIO8,ALE接PIO33,状态机时钟CLK接clock0(PIN2,可选“65536Hz”或更高),ADDA接PIO32(ADDB和ADDC都接GND),ADC0809的8位输出数据线接PIO23~PIO16,锁存输出Q显示于数码8/数码7(PIO47~PIO40), 设目标器件是EPF10K10,建议选择实验电路结构图NO.5(即结构图NO.5A,附图1-12,由该图可见,ADC0809的转换时钟CLK已经事先接有750KHz的频率),将实验系统左下角选择插针处的“转换结束”和“A/D使能”用跳线幅短接。下载目标文件后,可用螺丝刀旋转实验系统左下角的电位器,以便为ADC0809提供变化的待测模拟信号,这时数码管8和7将显示ADC0809采样输出并被锁存的数字值(16进制)。 实验板中ADC0809 电路原理图,注意 与目标器件的连接 方法 选择实验电路 模式5! 根据此表锁 定引脚 ADC0809 0809将0-5V输入 模拟电压通过 FPGA中的状态机 转换输出为16进 制数:“9D” 旋转此电位器 可改变0809的 输出 注意转换输出 已改变为:7C 注意,此项实验必须将此2拨 码向下拨,功能请参考使用 说明。实验结束后,将它们 向上拨回原位 实 验 实验7-2 用状态机对ADC0809的采样控制电路实现 (4)实验思考题:在不改变原代码功能的条件下将例7-12表达成用状态码直接输出型的状态机。 (5)实验报告:根据以上的实验要求、实验内容和实验思考题写出实验报告。 实 验 实验7-3 含有FIFO存储器的A/D采样控制电路设计 (1)实验目的:掌握LPM模块VHDL元件定制、调用和使用方法;熟悉含有LPM模块的VHDL电路描述程序的设计、编译和硬件实验流程;了解HDL文本描述与原理图混合设计方法(注,本实验应在完成第8章的学习后进行)。 (2)实验原理:在第8、10小节中,对含有FIFO的A/D采样控制电路系统AD_FIFO的工作原理作了详细的说明,并给出了它的原理图(图8-3)及其VHDL程序,(例8-25)。 (3)实验内容1:根据第8章第10节的电路原理描述和设计流程,A/D采样控制
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