0SPC控制程序..docVIP

编制部门 编 制 审 核 批 准 品保部 日 期 日 期 日 期 编制/修订履历 NO. 版本 日 期 变更描述 拟制 审核 批准 备注 1 A 2016-11-1 新版发行 文件会签 及发行说明 会签部门 会签部门 会签部门 □ 电芯事业部-生产部： □ PACK事业部： □ 电芯事业部-设备部： □ 人力资源管理中心： □ 电芯事业部-工艺部： □ 财务管理中心： □ 电芯事业部-研发部： □ 供应管理中心： □ 电芯事业部-品质部： □ 仿真实验室事业部： □ 综合管理中心-行政部： □ 综合管理中心-PMC： □ 综合管理中心-仓储部： 1、目的 了解和改善关键过程的过程能力，通过对过程数据统计的分析使其量化，为制造过程的过程能力的改善提供数据分析的参考和依据。 2、适用范围 本程序适用于本公司顾客要求和经识别须做统计过程控制的所有工序过程。 定义 SPC（Statistical Process Control）：指统计过程控制，是应用统计技术对过程中的各个阶段进行评估和监控，建立并保持过程处于可接收的并且稳定的水平，从而保证产品与服务符合规定的要求的一种质量管理技术。 子组内变差（σc）：仅仅由于子组内的变差引起的变差。如果过程处于统计受控状态，该变差就是对过程固有变差的一个好的估计。估计值可以从控制图R/d2或S/C4得到； 子组间变差：由子组间产生的变差。如果过程处于统计受控状态，该变差应该为0； 过程总变差（σp）：由子组内和子组间二种变差所引起的变差。如果过程处于不受控状态，过程总变差将包括特殊原因和普通原因的影响。该变差可以采用详细的控制图或过程研究中得到的所有单值读数计算出来。一般通过样本标准差S来估计： 过程固有变差：仅仅由于普通（系统）原因产生的那部分过程变差。过程处于受控状态时，子组间变差为0，子组内变差为过程固有变差的好的估计。 过程能力：仅适用于统计稳定的过程，是过程固有变差的6范围，式中通常用R/d2或S/C4来估计。 过程性能：过程总变差的6σp范围，式中σp通常用样本标准差S来估计。当过程处于受控状态，过程能力将非常接近过程性能。当过程能力和性能之间存在较大差异时，表示有特殊原因存在。 Cp：一个过程能力指数。它把过程固有变差的6范围与由公差表示的最大可允许的变差（工程范围）进行比较。Cp不考虑过程有无偏移，不受过程位置的影响，该指数只是针对双边公差而计算的。 Cpk：一个过程能力指数。它考虑了过程的位置和分布宽度。对于双边公差，Cpk将总是小于或者等于Cp。只有当过程位于中心时（和规格中心重叠），Cpk等于Cp。 Cpu：上限能力指数。 Cpl：下限能力指数。 Cpk等于Cpu、Cpl中较小的一个。 Pp：一个性能指数。它把过程总变差的范围与由公差表示的最大可允许的变差（工程规范）进行比较。该指数反应了过程是否能够很好的满足变化要求。该指数针对双边公差计算。 Ppk：一个性能指数。它考虑了过程的位置和性能。对于双边公差，Ppk总是小于或等于Pp，只有当过程位于中心时，Ppk才等于Pp。 Ppu：上限性能指数； Ppl：下限性能指数； Ppk是Ppu和Ppl中较小的一个。 PPM：质量水准，即每百万个零件不合格数。指一种根据实际的缺陷材料来反映过程能力的一种方法。PPM数据常用来优先制定纠正/预防措施。 Cmk：设备能力指数：是反映机械设备在受控条件下，当其人/料/法/环/测不变时的生产能力大小。其与Cpk的区别，仅在于，Cpk要考虑人/料/法/环/测等因素对过程及产品的影响，而Cmk要尽量排除人/料/法/环/测等因素对过程及产品的影响，而仅仅保留设备对过程及产品的影响。（见附件四：机械和工装设备能力计算） 分析用控制图：用控制图对过程做一下调查分析时，即分析用控制图：分析过程是否处于统计控制状态该过程的过程能力指数是否满足要求。分析用控制图的调整过程即质量不断改进的过程。 5、流程图 SPC流程图 6、作业内容 控制要点 标准 6.1 识别须做SPC的控制过程 6.1.1 SPC控制项目识别： 制程设计开发阶段，制定PFMEA时，识别的关键工序/过程及其检测指标； 客户要求； 原材料关键性能测试指标、成品的关键性能测试指标； 以上项目，应在控制计划或检验标准中明确体现。 6.2 控制图的选择 控制图的分类及适用场合： 计量型控制图： 计