QCI010可靠性计划管制办法..docVIP

东莞亚璘电子科技有限公司 东莞市南沣电子科技有限公司 可靠性计划管制办法 文件履历表 版次 变更 日期 变更原因 变更内容说明 1 2 2010-04-24 2015/1/24 文件制订 文件维护 增加亚璘抬头 目的： 为确保不同阶段生产的产品都能符合设计要求，针对试产、进料检验、制程管制、量产等进行必要之可靠性验证，使产品经过不同的运输过程或在不同的环境下，使产品达到客户需求之规格。 2.范围： 适用于本公司所有Cable产品试产、制程管制和出货可靠性实验。 3.权责： 品保部：负责所有产品测试计划制定及执行测试。 工程部：负责可靠性试验不良项目分析及改善后验证。 4.定义：无 5.作业内容： 5.1 Connector＆Cable常用的测试规范及测试项目 5.1.1电气特性测试： A.绝缘阻抗测试 (Insulation Resistance); 量测目的：评估连接器之绝缘材料在通过直流电 压后， 其表面产生漏电流状况，以判定其绝缘程度 量测依据：MIL-STD-1344 A，method 3003.1 量测方法： A-1. 测试位置为最靠近之相邻两端子或端子铁壳，如果是同轴连接器则为内部与外部之端子﹔ A-2. 测试时间：2分钟﹔ A-3. 测试电压：500 Vdc或特别规定。 B.耐电压测试(Dielectrics With standing Voltage); 量测目的：评估连接器之安全额定电压及承受瞬间脉冲电压之安全性，进而评估连接器的绝缘材料与其组成绝缘间隔是否适当﹔ 量测依据：MIL-STD-1344 A，method 3003.1; 量测方法： B-1.测试点为最靠近之相邻两端子及Shell与最接近ShellR 的端子间 B-2. 测试时间：1分钟﹔ B-3. 耐压过程之漏电流除特别规定外，不得超过5mA，一般以0.5mA为测试需求﹔ B-4. 测试电压除特别规定外，一般以交流电压为测试要求。 C.低功率接触阻抗(Low Level Contact Resistance); 量测目的：在不破坏端子表面的氧化薄膜下，测试结合两端子间的接触阻值，以作为连接器端子之总体性评估。 量测依据：MIL-STD-1344 A，method 3002-1; 量测方法： C-1. 以四线量测法量测结合端子之电阻值﹔ C-2. 测试电流：100mA maximum﹔ C-3. 开路电压：20mA maximum﹔ D.电容和电感测试(Capacitance .Inductance)﹔ 量测目的： 评估连接器之电容值及电感值是否合乎规格需求，因连接器之目的即为传输信号。而传输线的电容、电感取决于导体的几何形状、 介质特性。若是设计不良，则会导致信号传输延迟，讯号扭曲及阻抗不匹配的现象。 量测依据： 电容量测 MIL-STD-202F，method 305﹔ 电感量测 EIA-364-69 依客户之测试要求 量测方法 D-1量测频率：除特别规定外，一般以1Khz或1MHz﹔ D-2电容量测：在相邻2Pin的远程开路，近端以电容表或LCR meter量测其电容值﹔ D-3电感量测：在相邻2Pin远程短路，近端用LCR meter量测其电感值﹔ E.温升测试(Temperature Rise)。 量测目的：评估端子能携带规格之额定电流在规格时间内，其温升不得超过规定值﹔ 量测依据：IEC-512-3﹔ 量测方法： E-1样本试验之线路接法﹔ E-2测试时间：5H﹔ E-3除特别规定外，一般温升变化的最大值为不超过室温300C。 5.1.2 机械特性测试： A. 单点插入与拔出力(Engagement.Separation Force); 量测目的：评估个别端子插入与拔出时所需之力量; 量测依据：EIA-364-37A﹔ 量测方法： A-1 用maximum 测试pin 预先插拔2次﹔ A-2 如无特别规定则以最大测度pin或测试板量测插入力以最小测试pin或测试板测拔出力﹔ A-3 测试之 Gage pin 应注意其表面粗糙度规格须符合 MS-3197之规定。 B.连接器的结合与拔出力(Mating .Unmating Force)﹔ 量测目的：评估连接器在不同环境下，测试前及测试后的整体插入与拔出力及连接器铁壳之防护能力﹔ 量测依据：MIL-STD-1344 A，method 2031.1﹔ 量测方法： B-1 一般以连接器公母实配为测试方法﹔ B-2 样品为SLOT系列产品时，除特别规定外，则以最大尺寸测试板测试Mating Force ,以最小尺寸测试板测Unmating Force。 C.