【2017年整理】吉尔吉斯干扰信号特征提取方法.docVIP

吉尔吉斯干扰信号特征提取方法 文档密级 CREATEDATE \@ yyyy-MM-dd \* MERGEFORMAT 2003-02-27 内部资料，请勿扩散 第PAGE3页, 共 NUMPAGES \* Arabic \* MERGEFORMAT 3页 吉尔吉斯干扰信号特征提取方法 说明：根据前一阶段吉尔吉斯频谱分析仪测试情况来看，存在外部干扰的可能性非常大，本文档描述了利用频谱分析仪对通过天线、CDU进行外部干扰信号特征提取的初步测试方法，根据测试情况再进行进一步的输入测试和分析。另外，现场仅有856×系列频谱分析仪，现有测试方法根据这台频谱分析仪的使用方法进行描述。该描述假设现场人员能熟练操作频谱分析仪。 频域测试方法 实验室测试 静态情况下的测试 在实验室内，直接在BTS3X系列基站上配置一个4载频小区，被测试载频频点和另外两个载频配置成间隔一个频点的工作状态，非测试载频所有时隙满功率发射，被测试载频仅仅打开一个时隙，BW分别设置为1kHz、3kHz、10kHz、30kHz、100kHz、300kHz、1MHz，VBW＝3*RBW，SPAN＝1MHz，检波方式＝Averg，采用单次测量和峰值保持测量方式，获取被测载频工工作频点1MHz内的频谱。参考第三节描述，保存测试结果。 然后，分别依次打开2～8个时隙，重复打开一个时隙的测试，保存测试结果。 采用信号源代替载频，工作在上行频点，静态工作，信号在CDU输入端口输入，用频谱分析仪在CDU输出端口测试，信号源输出信号电平在-110dBm、-100dBm、-80dBm、-60dBm、-50dBm，然后重复在基站载频上所做的1～8个时隙分别打开的测试过程，保存信号源的测试结果。 以上的测试是我们基站发射频谱的和接收通道上行GSM频谱测试样本。 多径情况下的测试 采用信号源代替载频，工作在上行频点，信号源分别工作在TU50、HT100、RA250三种多径模式下，信号在CDU输入端口输入，用频谱分析仪在CDU输出端口测试，信号源输出信号电平在-110dBm、-100dBm、-80dBm、-60dBm、-50dBm，然后重复在基站载频上所做的1～8个时隙分别打开的频谱测试过程，保存信号源的测试结果。 现场测试 正常工作情况下 基站正常工作，通过CDU的一个输出端口，BW分别设置为1kHz、3kHz、10kHz、30kHz、100kHz、300kHz、1MHz，VBW＝3*RBW，SPAN＝1MHz，检波方式＝Averg，采用单次测量和峰值保持测量方式，获取被测载频工工作频点1MHz内的频谱。测试结果参考第三节的保存方法进行保存。 注意获取不同用户占用该频点是的频谱测试结果。测试频点最好在相邻两个信号内无其他工作频点。 闭塞被测试频点情况下 基站正常工作，但在被测试频点以及被测试频点相邻1个或者两个频点无工作频点，通过CDU的一个输出端口，BW分别设置为1kHz、3kHz、10kHz、30kHz、100kHz、300kHz、1MHz，VBW＝3*RBW，SPAN＝1MHz，检波方式＝Averg，采用单次测量和峰值保持测量方式，获取被测载频工工作频点1MHz内的频谱。测试结果参考第三节的保存方法进行保存。 时域测试 实验室测试 静态测试 采用信号源代替载频，工作在上行频点，静态工作，信号在CDU输入端口输入，用频谱分析仪在CDU输出端口测试，信号源输出信号电平在-110dBm、-100dBm、-80dBm、-60dBm、-50dBm，频谱分析仪SPAN＝0Hz，BW＝1kHz、10kHz、30kHz、100kHz、300kHz、1MHz、3MHz，中心频点＝工作频率，触发方式选择包络触发，扫描时间分别置为50uS，100uS，500uS，1ms，信号源分别打开1～8个时隙，保存所有测试结果。 多径情况下的测试 采用信号源代替载频，工作在上行频点，分别工作在HT100、RA250、TU50三种多径模式下，信号在CDU输入端口输入，用频谱分析仪在CDU输出端口测试，信号源输出信号电平在-110dBm、-100dBm、-80dBm、-60dBm、-50dBm，频谱分析仪SPAN＝0Hz，BW＝1kHz、10kHz、30kHz、100kHz、300kHz、1MHz、3MHz，中心频点＝工作频率，触发方式选择包络触发，扫描时间分别置为50uS，100uS，500uS，1ms，信号源分别打开1～8个时隙，保存所有测试结果。 现场测试 基站正常工作情况下 基站正常工作，频谱分析仪接CDU的一个接收输出端口，频谱分析仪SPAN＝0Hz，BW＝分别设置为1kHz、10kHz、30kHz、100kHz、300kHz、1MHz、3MHz，中心频点＝工作频率，触发方式选择包络触发，扫描时间分别置