3XRD分析方法2014讲解.pptx

材料表征分析技术Material characterization techniques 屈树新*，鲁雄，李孝红，段可 西南交通大学材料科学与工程学院，材料先进技术教育部重点实验室，分析测试中心(信息楼105) qushuxin@swjtu.edu.cn XRD分析方法 X-射线物理学基础 X-射线与物质的相互作用 X-射线衍射分析原理 X-射线衍射分析应用 XRD图谱的物相鉴定 X射线物理学基础 X射线的产生 德国科学家伦琴，1895年 使相片底片感光，并有很强的穿透力 X射线的应用 科学研究 (XRD、XPS) 医疗（透视） 技术工程 (无损探伤) 衍射分析技术的发展 与X射线及晶体衍射有关的部分诺贝尔奖获得者名单 X射线物理学基础 X射线的本质 电磁波，波长较短，一般在0.05－0.25nm; 劳厄，1914年，晶体衍射实验； X射线具有波粒二相性（德布罗意） 衍射：可见光 一定能量的光量子流 H：普朗克常数＝6.626－34J?S E：能量； P：动量 c：光速; ?： 波长 X射线物理学基础 X射线物理学基础 X射线的产生 原子内的电子分布在一系列量子化的壳层上，按K、L、M、N……递增； 最内层的能量最低 某层电子的能量 当冲向阳极靶的电子具有足够能量将内层电子击出成为自由电子（二次电子）； 原子：高能的不稳定