7.2空间变光信号.ppt

一、光电测长技术 光电测长技术 光度测量法 成像测量法 扫描测量法 激光扫描测长 变换方法 分类 光学原理 典型应用 轴向测距 光波测距 光传播时延 激光测距 光焦点法 像点离焦扩散 仿形测量 象偏移法 像点离焦偏离 光仪自动调焦 光束偏移法 折反光束偏移 膜厚测量 X 像点轴上偏移检测的光焦点法 Laser 像点轴外偏移检测的像偏移法 LD 2 8 9 10 非相干检测 南京理工大学 何勇 空间变化光信号 光学图像的扫描 光度变换 几何参量的检测 空间编码 线值测量 轴向测距 图像扫描 机械法 光束式 电子式 实体扫描 运动物体 静止物体 空间搜索 简单光学目标空间定位 像分析 几何中心检测法 亮度中心定位法 光学像分解 扫描调制 象限检测器 一、简单光学目标的形位检测 简单光学目标通常由点、线、平面等简单规则图形组成。包括刻线、狭缝、十字线、光斑、成像系统得到的远处物体的弥散园及工业规则图形等。 测量的目的是确定目标相对基准坐标的角度或位置偏差。在实际的光电工程中很多对象可以制作或简化成简单的光学目标。例如，许多几何量的形位测量就常常利用被测物体与其背景间的光学反差来确定物体边缘轮廓。而大多数的物体轮廓，特别是工业图形都是相对简单和规则的。此外，在对星体、飞行物等远处活动目标的跟踪测量中，也需要将它们看作是在广阔背景上的一个或多个独立的辐射光斑来确定该点源的空间坐标。因此，简单光学目标的测量是物体空间状态检测的重要方面。测定目标相对基准的角度偏差和位置偏差在生产、科研和军事中有广泛的应用。例如大尺寸工件的安装与加工、高速公路和钢轨的自动铺设、地下隧道的自动掘进等工程中采用的自动准直测量；精密小尺寸测量中的目标对准和位置偏移测量；现代天文望远镜中的光电导星；军事应用中的激光制导和激光定向等都是这些方面的典型应用。 ? ? 光学目标的几何中心和亮度中心 光学目标和其衬底间的光学反差构成了物体的外形轮廓，轮廓尺寸的中心位置称作它的几何中心 光学目标的亮度分布是光辐射能量沿空间的分布。将物体按辐射能量相等的标准分割为两部分，其中心位置称作亮度中心 (一)几何中心检测法 通过分析被测物体在像面上的几何中心相对于像面基准的偏移情况，从而确定该物体在空间位置的方法称作像分析 1．双通道差分调制式像分析器 2．单通道扫描调制式像分析器 成像光路增设了周期振动的光学零件(如棱镜反射镜、光楔等)或振动狭缝，使像面上的目标像相对狭缝作周期振动。这时透过狭缝的光通量形成随时间周期性变化的光载波。目标像的位移信息将由于像分析而调制到载波上去，从而产生各种调制的光信号。这种使目标像和测光窗口之间相对扫描运动的像分析器称作扫描调制型像分析器。 光电对准 1.光度式光电显微镜 光电对准 （1）单管对准原理 设狭缝宽a与刻线像宽e相等，当刻线像中心与狭缝中心相对位置不同时，穿过狭缝进入光电管的光通量分别为Φmin、 Φ a、 Φ max,由于光电元件的输出取决于光通量，故上述不同位置的相应输出电压为Umin、Ua、Umax,经放大后由电表读出。取电压的最小值为零点，即当电表指示Umin时，认为刻线像中心与狭缝中心重合，此即对准位置。但实际上在测量过程中由于各种因累的影响，如：刻线质量不一致、成像质量、电源电压的波动、电子元件的老化等，使Φ值与相应的电压U不稳定，因而导致对准误差。 光电对准 （2）双管差动式的原理 两狭缝的长度和宽度应相等，且等于刻线像的宽度。这样当刻线像未进入狭缝时，通过两狭缝的光通量应相等，两光电管输出的电压相等。两狭缝有一相位差，即两狭缝的空间位置应是并排的，它们的中心距一般应等于缝宽。这样，当到线像在狭缝面上扫描时，位于狭缝平面上的两光电管产生的光电信号相位正好相差180。 光电对准 由于采用差值信号，所以许多影响单管式的不稳定因素可以相互抵消，由于它们的影响相同从1变到2，相应的差值曲线也从1’变为2’，但是零点没有改变，对准点不改变。差动原理是一种消除误差的有效方法。 光度式光电显微镜的优点是机械结构简单，连续工作稳定性好。 光电对准 2.相位式光电显微镜 光电对准 光电信号的波形图 光电对准 2.自准直望远镜 光电对准 光电对焦 1、光度式自动调焦系统 光度式自动调焦系统 光电对焦 2、斜光束自动调焦系统 斜光束自动调焦原理图 光电对焦 光电自动调焦光学系统 光电对焦 光电复合窗视场图 光电对焦 3、动态光电定焦系统 像散法原理 光电对焦 偏心辅助光束法 光电对焦 刀口法原理 （二）亮度中心检测法 将来自被测目标的光辐射通量相对于系统的测量基准轴分解到不同坐标象限上，再根据这些图像在各象限上能量分布的比例，检测出目标的亮度中心位置。这种确定目标空间位置的方法称作象限分解法。 适用于该种方法的目标可以