光子相关光谱法粒度分析仪校规范光子相关光谱法粒度分析仪校准规范光子相关光谱法粒度分析仪校准规范光子相关光谱法粒度分析仪校准规范.docVIP

光子相关光谱法粒度分析仪校准规范 　　光子相关光谱法粒度分析仪主要用于测量分散于液体中的颗粒的平均粒径，该方法所适用的颗粒粒径范围从几个纳米至大约1微米、或至颗粒开始沉降时的粒径。 　　1 范围 　　本规范适用于光子相关光谱法粒度分析仪的校准。 　　注1：光子相关光谱法(PCS)也称为准弹性光散射法(QELS)或动态光散射法(DLS)。 　　2 引用文献 　　JJF 1001-1998 通用计量术语及定义 　　JJF 1059-1999 测量不确定度评定与表示 　　JJF 1071-2000 国家计量校准规范编写规则 　　GB/T 15481-1995 校准和检验实验室能力的通用要求 　　GB/T 19627-2005 粒度分析——光子相关光谱法 　　ISO14887 样品制备——粉末在液体中的分散方法 　　使用本规范时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本。 　　3 符号和计量单位 　　平均粒径，xpcs average particle diameter： 　　单位：nm(10^-9m)。 　　4 概述 　　光子相关光谱法粒度分析仪主要用于测量分散于液体中的颗粒的平均粒径，该方法所适用的颗粒粒径范围从几个纳米至大约1微米、或至颗粒开始沉降时的粒径。 　　光子相关光谱法粒度分析仪的测量原理为：被测样品颗粒以适当的