x射线新课件 第六章 宏观应力测量n.pptVIP

X射线衍射谱收集 测量每张衍射谱的2θ值，画出2θ—sin2ψ图，最小二乘法 求其斜率M，查表获得K1值， 计算应力值σ=K1×M 。 M为正，表示表面为压应力， M为负，表示表面为拉应力 结果精确，测量次数多 Ψ的倾侧方式 式中K2是0o— 45o法的应力常数，它不同于sin2ψ法中的K1。 二、 0°— 45°法应力计算公式 当晶粒细小、织构少、微观应力不严重时，直线的斜率可以由首位两点决定，即只需要测定0°和45°两个方向的应变，这种方法此时就称为0°— 45°法。 §6－3 试验精度的保证及测试原理的使用条件 一、样品表面的清理 ① 保证试样表面清洁，去掉表面的污染物和锈斑。 ② 如果测量的是切削、磨削、喷丸以及其它表面处理引起的表面残余应力时，绝不应破坏原表面。 ③ 在处理表面时，不要引起应力分布的变化，达不到测量的目的。 二、辐射的选择 ① 所选择的入射线的波长，应该使待测衍射面的θ角尽可能接近90°（一般应在75°以上）。 ② 背景强度要低。 三、吸收因子和角因子的校正 影响衍射线不对称的主要因素有吸收因子和角因子。在衍射线非常宽的情况下，需要吸收因子和角因子对衍射峰形进行修正，使其基本上恢复对称形式。 在一定的倾角下，它是一个单值增加函数，其增加值比角因子小。一般认为 只有在衍射线半高宽在6 °以上，而且应力比较大时，才有必要考虑这个修正。 ① 吸收修正因子为： ② 一般认为衍射线半高宽在3.5～4.0°以上时，进行角因子修正。 修正强度等于实测强度除以该点处的φ(θ)×R(θ) 四、正确测量衍射峰的2θ角 半高宽法 半高宽法是以峰高1／2处峰宽的中点作为衍射峰的位置其标定过程如下: ① 连接衍射峰两端的平均背底直线ab。 ② 过衍射峰最高点P作X轴的垂线，交直线ab与P′点 ③ 过PP′线中点O作ab平行线，与衍射峰轮廓相交于M、N两点。 ④ 将MN的中点作为衍射峰的位置。 抛物线法 抛物线法是将抛物线拟合到峰顶部，以抛物线的对称轴作为峰的位置。 可采用三点、五点抛物线法求出衍射峰顶点的位置，其中三点抛物线法简便被广泛应用。 对于长轴与纵轴平行的抛物线，一般方程为： （x-h)2 = P(y-k) P 为常数； h 或 k 为顶点的横坐标和纵坐标 五、测试原理的使用条件 ① 对于关系是ε=Δd/d，这里默认了某个晶面间距的变化等于弹性力学意义上的宏观应变。实际上，用X射线测定的晶面间距是试样表面上部分晶粒中的。由于部分晶粒的大小、择优取向的不同，实测数据可能偏离2θ～sin2ψ的理想线性关系。 ③ 晶体本身具有各向异性，有时不同晶体学方向上的力学性能差别很大，在作测量的不宜用工程上的泊松比和弹性模量。应力常数的确定，可通过试验方法进行实测。 ② X射线测量应力是对于一定厚度的材料表面层而言，其厚度与X射线波长和材料的吸收系数等因素有关。只有在X射线波长较长、样品表层没有明显的应力梯度情况下才用。 结 束 第六章 宏观应力测量 残余应力:产生应力的各种外部因素撤除之后材料内部依然存在，并自身保持平衡的应力。 应 力:单位面积上的内力。 内 应 力:产生应力的各种外部因素撤除之后或在约束条件下，材料内部或构件中依然存在，并自身保持平衡的应力。 相关概念 第一类内应力：宏观应力，是晶体的宏观尺寸（mm 级）上，相当大范围或整个试样上，均匀分布的一种应力存在。 按内应力的存在范围可分三类： 内应力的分类 第二类内应力：微观应力，均匀分布在每个晶粒范围内。 第三类内应力：超微观应力，应力存在于晶界、位错等更微小的微观区域内。 金属材料及其制品在冷、热加工（如切削、拉伸、轧制、喷丸、热处理等）过程中，常产生残余应力。影响制品的疲劳强度、抗应力腐蚀疲劳、尺寸稳定性和使用寿命等； 实际意义：检查消除应力的各种工艺效果；间接检查表面处理效果；预测零件疲劳强度的贮备等； 可以评价材料强度、控制加工工艺、检验产品质量、分析破坏事故等。 宏观应力测定的必要性和重要性 当试样有应力时，与无应力试样相比，X射线谱中的衍射峰将发生变化。 宏观应力：引起衍射峰的移动（改变），当应力为拉应力时，衍射线向小角度移动，压应力时，衍射线向大角度移动。最大强度不变，积累强度不变。 ①Imax不变 ②I积累不变 ③拉应力θ向小角度方向移动 压应力θ向大角度方向移动 θ 微观应力：衍射线位置不发生变化，但衍射线变宽，最大强降低，积累强度变化不大。 θ ①Imax降低 ②I积累不变 ③θ不变