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x射线新课件 第七章 织构及其X射线衍射测量n.pptVIP

x射线新课件 第七章 织构及其X射线衍射测量n.ppt

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二、反极图 反极图也是表示织构的一种图形,它是把选定方向(例如板材的轧制平面法线方向,或轧制方向,或轧制的横向,或丝材的轴向等)在各个晶粒内的出现情况,进行统计,绘出其分布规律的一种极射赤面投影图。 具体讲:晶体中各个晶粒与选定方向均有一定位相关系,先将各个晶粒进行转动,使它们都转到标准极射赤面投影图的 位置(晶粒(001)平行于投影面,〔100〕极点竖直向上),选定方向也随之转动。将选定方向的新位置按其分布规律标注在标准极射赤面投影图上。只需绘在极射赤面投影图的一个基本三角形上。这样一张选定方向分布的图,称为反极图 冷轧黄铜板的反极图 a 轧制平面法线方向 b 轧制方向 挤压铝棒的轴向反极图 111、001双织构 高纯镍退火后的再结晶织构 {001}100织构 面心立方晶体几种典型织构的极图、反极图特征 三、取向分布函数(ODF) 极图和反极图都是用二维图像描述晶体三维的取向分布,均有必然的不足之处。特别是在织构复杂和漫散的情况下,可能会造成误判。为了弥补极图和反极图的不完善,提出用三个参数描述织构的方法,即取向分布函数(ODF)。 采用空间取向g(φ1、Φ、φ2)的分布密度f(g),可以表示整个空间的取向分布。 g(φ1、Φ、φ2) Φ φ2 φ1 FCC金属的织构组分 组分,符号 {hkl} uvw φ1 φ φ2 铜,C 112 111 90 35 45 S 123 634 59 37 63 高斯,G 011 100 0 45 90 黄铜,B 011 211 35 45 90 立方 001 100 0 0 0 面心立方晶体织构特征 FCC金属的织构组分 组分,符号 {hkl} uvw φ1 φ φ2 铜,C 112 111 90 35 45 S 123 634 59 37 63 高斯,G 011 100 0 45 90 黄铜,B 011 211 35 45 90 立方 001 100 0 0 0 面心立方晶体织构特征 体心立方晶体织构特征 六方金属的轧制织构 为基面平行于轧面的织构 (0002极图),(a)镁c/a?1.62; (b)锌c/a?1.88 TD转轴/20??30?; (c)钛c/a?1.59 RD转轴/30??40? 对应单胞的空间方位 镁及镁合金重要织构的极图和ODF图特征 {0001}基面丝织构 {hkil} 丝织构 10-10 丝织构 镁及镁合金重要织构的极图和ODF图特征 镁及镁合金重要织构的极图和ODF图特征 11-20 丝织构 {0001}11-20 板织构 镁及镁合金重要织构的极图和ODF图特征 {0001}10-10 板织构 镁及镁合金重要织构的极图和ODF图特征 镁及镁合金重要织构的极图和ODF图特征 {10-10} 0001 板织构 {10-10} 11-20 板织构 {11-20} 0001 板织构 {11-20} 10-10 板织构 镁及镁合金重要织构的极图和ODF图特征 晶体的取向 极射赤面投影 织构的表示方式 织构的X射线测量方法 材料X射线宏观织构检测基本原理 极图是确定多晶体织构织构的重要依据,实践上通常会利用X射线衍射的原理测量多晶体极图。 待测多晶试样坐标系Oxyz,I、I0和N构成衍射角固定在2θHKL位置的X射线衍射系统坐标, N 为参与衍射的一组晶粒{HKL}晶面法向。 固定衍射系统I-I0-N,使晶体坐标系统Oxyz按图左侧两系统坐标关系做相对转动,则可测得N为不同取向 (α, β)时的衍射强度,进而获得极密度分布值PHKL(α, β) 。 所有晶粒的{HKL}晶面都有机会在特定方位参加衍射。根据所测衍射多晶体的衍射谱,在测量前事先调整衍射角的位置,随后的测量中即可以获得不同{HKL}指数的极图数据 PHKL(α, β)。 用于测量多晶体极图数据的X射线衍射仪需要承载试样的样品台有转动功能,以便在检测过程中实现(α, β)转动。 以测轧制板材织构为例,固定X射线衍射系统的I-I0-N,使多晶体试样坐标系RD-ND-TD按图做(α, β)转动,获得极密度分布值。 调整2θ衍射角以获得不同{HKL}指数的极图数据组或极密度分布函数值PHKL(α, β) 。 极图测试原理示意图 用板试样测绘完整极图可采用透射法和反射法衍射测量来共同完成。透射法测绘极图的边缘部份,反射法测绘中央部份,然后将这两种方法的测量数据归一化起来,描绘成统一的完整极图。 透射法 反射法 通过反射法测量多个晶面的不完整极图,然后通过数学处理,也可获得完整极图。 谢谢! ⑦ 基圆内的所有极点均是后半球上极点的投影,前半球的极点的投影在基圆以外。 ⑧ 只取后半球极点

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