x射线新课件 第三章 X射线的强度.pptVIP

② H、K、L 全为奇数 ③ H、K、L 为奇、偶混合 结构因子表现了晶体结构的差异对衍射的影响，但它只影响衍射线的强度，不会影响衍射的方向。 讨论： ① H、K、L 全为偶数 从衍射谱上看，各衍射峰的形状、高低、宽窄均不相同，这些衍射峰和衍射线的强度有关，但单纯用强度是不能说明这些现象的，在实验中有几个主要现象： ① 探测器在记录衍射线强度时，总是在一段时间内完成，探测器所记录的强度有时间积累效应 ② 是多晶体试样中许多晶粒的同一晶面的共同衍射，是不同晶粒衍射线的总和。这些衍射峰有“数量”的积累效应 ③ 在衍射学中，为了衡量这种积累效应，引入一个新的概念——积累强度 3.5 多晶体的衍射强度 积累强度的影响因素 结构因子 温度因子 能够参加衍射的晶胞数目 角因子 多重性因子 吸收因子 一、罗仑兹极化因子 －（角因子J） 将罗仑兹因子与极化因子（1＋cos22θ）/2组合，得 罗仑兹-极化因子（角因子）： 角因子为θ的函数。 它反映了衍射强度随布拉格角θ的变化。 实验过程中，由于入射线的发散，当θ角很小时，试样被照射的面积大。参加衍射的体积大，衍射线的强度大。随着θ角增加，照射面积减小，当θ角等于45°时，照射面积最小。随之再增加。 二、多重性因子（P） 据布拉格方程 2dsinθ=λ,当λ一定时，相同面间距的所有衍射面，衍射线重合为一条。衍射强度为这些面衍射线强度的总和。 例如：立方晶系 对于｛100｝晶面族有6个晶面： 对于｛100｝晶面族也有4个晶面： 例如：四方晶系 d 相同P=4; d 相同P=2 d 相同 P=6 H00 0k0 00L HHH HH0 HK0 0KL H0L HHL HKL 立方 6 8 12 24* 24 48* 六方、菱形 6 2 6 12* 12* 12* 24* 四方 4 2 4 8* 8 8 16* 正交 2 2 2 4 4 4 8 单斜 2 2 2 4 4 2 4 三斜 2 2 2 2 2 2 2 粉末试样的多重性因素 ＊在某些晶体中，具有此指数的两族衍射面，其面间距相同，但结构因数不同，在计算时，应将表中数据平均分配 三、温度因子（e-2M) h — 布朗克常数 k — 波尔茨曼常数 T — 实验环境温度（K） ma — 被照射物质的原子质量 Θ — 被照射物质的德拜特征温度（K） Φ（x） — 德拜函数 λ — 入射线波长 θ — 布拉格角 θ一定，T增加，M增加， e-2M越小，I越小 T一定， θ增加，M增加， e-2M越小，I越小 四、吸收因子（A） 由于试样本身对X射线的吸收，使衍射强度实测值与计算值不符，为修正这一影响，引入吸收因子A（θ）。 吸收因子A（θ）因试样形状、大小、组成和衍射角不同。 无吸收时， A（θ）＝1 ； 吸收越多，衍射强度衰减程度越大，则 A（θ）越小。 圆柱形试样 平板状试样 1、圆柱试样的吸收因数 样品半径(r)和线吸收系数(μ)越大，则吸收X射线越多，A(θ) 越小 当(r)和(μ)都很大时，入射线进入样品一定深度后就被全吸收，实际上只有样品表层发生衍射。 透射衍射线 试样半径大或吸收系数大时 背反射衍射线 透射衍射线 1.圆柱试样的吸收因数 当(μr)一定，θ越小，衍射线穿过路径长，吸收多，A(θ)越小 即透射线吸收较大、强度衰减严重；背反射线吸收较小 因此，吸收因子A(θ)为布拉格角θ和( μr)的函数 透射衍射线 试样半径大或吸收系数大时 背反射衍射线 透射衍射线 圆柱试样吸收因数与(μr)及θ的关系 在同一θ角处，(μr)越大，A(θ)越小。 不同的μ r值 同一试样(μr)为定值：A(θ)随θ值增加而增大。在θ＝900时为最大，常设为 100 或 1。 圆柱试样吸收因子可查有关资料。 2.平板状试样的吸收 衍射仪法：使用平板样品。 入射角度越小，照射面积越大，深度越浅；反之，当入射角度越大，照射面积越小，深度就越大，二者的照射体积相差不大。 对无限厚平板状试样：其吸收因子A(θ)与θ无关。 事实上，吸收不可避免的，吸收越大，强度越低。 但是，吸收对所有反射线强度均按相同比例减少，故计算相对强度时，可忽略吸收影响。 令： K—常数 N0—单位体积内的晶胞个数 v —单个晶胞的体积 V—被X射线照射的体积 P—多重性因子 — 结构因子 J—角因子 e-2M — 温度因子 A—吸收因子 五、衍射线的积累强度 六、衍射强度公式的适用条件 以下两种情况下，衍射强度公式