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扫描探针显微镜系统 该系统功能有: 1、扫描隧道显微镜 2、原子力显微镜 3、液相原子力显微镜 4、导电原子力显微镜 5、扫描探针声学显微镜 6、压电力显微镜 7、力调制成像 8、纳米加工与操纵 9、加热台系统 10、磁力显微镜/静电力显微镜 1、扫描隧道显微镜(STM) STM是根据探针和样品之间由于隧道效应产生的隧道电流进行成像的; 样品:必须是导电的; 探针:直径约0.25mm,常用的有铂铱合金、 钨探针 2、原子力显微镜(AFM) AFM是利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与样品原子之间的作用力,来呈现出样品的表面形貌,具有原子级的分辨率。与STM相比,样品可以是导体也可以是非导体。 3、液相原子力显微镜 4、导电原子力显微镜 在其模式下,扫描时,同时得到: (1)表面形貌像; (2)电流像或电阻像. 故其是一种在纳米级上分析样品电学特性的重要检测技术。 二、扫描探针显微镜 5、扫描探针声学显微镜 (1)有扫描探针显微镜的高分辨率表面成像优势 (2)有扫描声学显微镜的非破坏内部成像特点。 二、扫描探针显微镜 6、压电力显微镜 其是检测铁电样品压电性能的一种新技术,利用其可在纳米尺度上得到铁电样品的压电性能空间分布。 7、力调制成像模式 其是研究样品表面上不同硬度和弹性区域的SPM技术,也是得到两个信息:形貌信息和力调制数据。使用力调制技术在那些形貌特征差别不大的表面上,进行表面相对弹性的观察是很有意义。
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