Σ-Δ转换器瓦特.凯斯特;詹姆斯.布莱恩特一、历史展望Σ-ΔADC结构.doc

Σ - Δ转换器 瓦特.凯斯特;詹姆斯.布莱恩特 一、历史展望 Σ - ΔＡＤＣ结构是从其早期发展阶段ＰＣＭ系统演变而来的，特别是与被称作增量调制和差分式ＰＣＭ的发射技术有关。（对Σ - ΔＡＤＣ的历史及概念的精彩的论述可参考麦克斯．豪塞尔的著作。）增量调制技术，和标准的ＰＣＭ一样，是由法国ITT实验室主任，德洛雷因，范．米尔洛，德加韦奇等人首次于１９４６年发明的。数年后，荷兰菲利普实验室再度发现了该原理，该实验室的工程师们在1952年和1953年首次发表了他们对单位和多位概念的广泛研究。1950年，美国贝尔电话实验室的卡特勒博士开创性地填补了差分式PCM技术的专利空白，也涉及到了同样的基本概念。 增量调制和差分式PCM技术发展的动因在于通过从连续取样而非实际取样中,对Δ峰值进行转换以实现更高的传导效率。在增量调制技术中，模拟信号经1位ADC（一种比较器）加以量化，如图3.119所示。 比较器的输出又经1位DAC被转换回模拟信号，然后流经积分器作为输入端进行减值运算。模拟信号形态转换如下：“1”代表从上次取样开始产生了正漂移，“0”代表从上次取样开始发生了负漂移。如果模拟信号在一段时间内保持在一个固定的DC值，那么就说明发生了“0信号”和“1信号”的模式转换。应当注意，除了用到多位ADC而不是比较器来导出传输信息外，差分式PCM也（见图3.119B）运用了以上完全相同的原理。 因为对可能产生相同信号的脉冲数量没有限制，增量调制系统能够探测任何幅度的信号。从理论上来讲，不会产生削峰的问题。然而，增量调制的理论局限于模拟信号不能变化太快。削峰问题如图3.120所示。在此，尽管各采取周期表明产生了正漂移，但模拟信号上长太快，以致数字转换器不能同步显示。 削峰问题可以通过增加量化步长或提高采样率来减弱。差分式PCM使用多位量化器来有效增加量化步长，同时也增加了其复杂性。测试显示，为了获得和标准PCM同质量的信号，增量调制器需要很高的采样率。通常而言，最高频率20相当于尼奎斯特速率2。正是这些原因，增量调制和差分式PCM技术从未得到很大程度的普及。但是，对增量调制器略加修改却导致了基本的Σ – Δ结构的产生，这是当今最流行的高分辨率模数转换器结构之一。 1954年，贝尔实验室的卡特勒博士填补了一项意义重大的专利，该专利引入了过采样和噪声整形原理，其特别用意是实现更高的图像分辨率。他的目的并不是特意设计一台奈奎斯特ADC，而是在不降低采样率的情况下，传输过采样的噪声整形信号。因此卡特勒的转换器体现了Σ - ΔADC所有的概念，而数字滤波及采样技术除外，因为在当时使用真空管技术极其复杂，并且成本昂贵。一阶Σ - Δ模数转换器架构如图3.121A和3.121B所示。注意，积分器的信号有误。而在增量调制器中，积分器位于反馈环节。基本过采样Σ - Δ调制器通过整形量化噪声，在低频段多数频宽以外提高全体信噪比。之后，数字滤波器清除频宽外所有的噪声，抽取滤波器把输出数据率降低至尼奎斯特速率。 图3.121：单位和多位Σ - Δ模数转换器 接下来数年，基于这些概念的不定期研究工作仍然持续着，包括1961布兰姆博士的重要专利，其中他详述了对二级多位噪声整形ADC环路滤波器的模拟设计。 在此期间，晶体管电路开始取代真空管，从而为这种结构的实施提供了更多的可能。1962年，猪濑，安田，村上详细解释了由卡特勒1953年提出的过采样和噪声整形结构。他们用固态设备装置的实验电路组成一二阶Σ - Δ模数转换器。继1962年的论文之后，1963再次发表的论文就过采样和噪声整形做了出色的理论研讨。这两篇论文都是首次使用 Δ-Σ这 个名字来描述此结构。此名一直使用到20世纪70年代，直到ATT工程师们用Σ - Δ这个名字来代替为止。在那期间，两个名字都一直被使用着。然而，Σ - Δ可也是两者中更正确的一个。非常有意思的是到目前所有的描述都与直接传导过采样数字信号相关，而不是对尼奎斯特模数转换器的实现。1969年贝尔实验室的古德曼博士发表了一篇描述真正意义上的尼奎斯特模数转换器的论文，此模数转换器带有一台滤波器和一个抽取滤波器。这是第一次应用 Σ- Δ结构来描述其在构建尼奎斯特模数转换器中的作用。1974年，同样来自贝尔实验室的康迪博士，用噪声整形，数字滤波，抽取滤波实现高分辨率尼奎斯特模数转换器来描述多位过采样Σ - ΔADC。集成电路Σ - ΔADC相比其它结构拥有更多优势，特别在高分辨率和低频应用方面。首要的是，单片化是单位Σ - ΔADC固有的属性，它不需要激光微调。同时，单位Σ - ΔADC因结构的数字密集特性，导致其自身在CMOS制造工艺中的低成本。早期的单片Σ - Δ模数转换器实例参见图13-21。 从那以后，一系列工艺和设计上基本结构的提高都见诸于之前引用的