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半导体测试的奥秘 原文本出自internet,版权归原作者所有 2006 龚轶 编译版权所有目录：1，????测量可重复性和可复制性(GRR)2，????电气测试可信度（Electrical Test Confidence）3，????电气测试的限值空间（Guardband）4，????电气测试参数 CPK5，????电气测试良品率模型（test yield)6，????晶圆测试和老化(Waferlevel Test and burn-in)7，????Boundary-Scan 测试 / JTAG 标准8，????自我测试电路（Built-in Self Test)9，????自动测试图形向量生成（ATPG）1，????测量可重复性和可复制性(GRR)GRR是用于评估测试设备对相同的测试对象反复测试而能够得到重复读值的能力的参数。也就是说GRR是用于描述测试设备的稳定性和一致性的一个指标。对于半导体测试设备，这一指标尤为重要。从数学角度来看，GRR就是指实际测量的偏移度。测试工程师必须尽可能减少设备的GRR值，过高的GRR值表明测试设备或方法的不稳定性。如同GRR名字所示，这一指标包含两个方面：可重复性和可复制性。可重复性指的是相同测试设备在同一个操作员操作下反复得到一致的测试结果的能力。