光学量测实习报告.doc

單元：光學平板(鏡)量測實驗-單色光干涉實驗 一、實驗目的 本實驗主要目的在了解光學平板量測之原理，並針對操作方法及干涉條紋意義與判獨有正確認識，由實際操作過程中，體會光學平板可以作為精密量測之意義及使用範圍。 二、實驗儀器 單色光燈(1、單面光學平鏡(1、測微器專用光學平鏡組(1、塊規組(1、外徑測微器(1及支座(1。 三、實驗原理 說明實驗之儀器操作原理或整體實驗主要架構方式。(參閱附件一) 四、實驗步驟 塊規平面度量測 先將工件毛邊、油污等去除與清潔，並利用手動式氣囊噴氣毛刷，去除平鏡與工件灰塵。 將工件置於單色燈源下方式當位置之平板上。 量測工件表面放置清潔光學紙或無塵紙。 將光學平鏡放至於該光學紙上方。 一手輕扶光學平鏡外圓周，另一手將紙慢慢抽出，注意動作勿刮傷平鏡或工件。 抽出紙張後，應產生諸多干涉條紋，若無法出現干涉條紋，需重複上述2~5項動作。 將工件與光學平鏡做適當旋轉，則干涉條紋減少，且呈現清晰明顯干涉條紋。 觀察表面干涉條紋情況，以判讀表面狀況。 塊規微小尺寸高度差量測 將已知尺寸塊規與待測塊規並排密接於光學平鏡上，另以一量測光學平鏡置於兩者上方。 於各塊規中央稍加壓力，觀察干涉條紋是否變化，若有變化且暗色帶發生擴散現象，表示該塊規較高。 計算干涉條紋數目，可以得到誤差量。 分厘卡量側面平行度檢測 使用不同厚度光學平鏡(尺寸為：12.00、 12.12、12.25、12.37mm)，在不同旋轉角度位置，檢測分厘卡兩砧座面之平行度。 五、實驗結果與數據 條理分明地寫出你的結果，照實陳述觀察所得結果。 實驗數據要經過整理後，才作成圖表以利判讀；不要將原始資料原封抄錄或貼在報告。若重複嘗試過多次實驗，請去蕪存菁，只寫出有意義的實驗結果，以免空佔篇幅；但切勿遺漏重要結果。(實驗數據紀錄紙如附件二) 六、實驗討論與分析 由結果所得到的觀察，進一步整合分析，說明由結果所透露出來的信息。 若有與事實或已知不符的現象，請仔細討論或解釋之。 通常都要引用已發表的論點來討論，並且引伸出可能的解釋模型；此一部份最需要發揮你的專業實力。 七、結論 簡述實驗之結論與未來發展應用。 八、參考文獻 報告中若有引用他人結果者，一定要列入參考文獻。 完成後請加入頁碼 附件 單元：光學平板(鏡)量測實驗-單色光干涉實驗 量測數據一 平面度量測 平面鏡規格： 工件名稱： 平面色帶意義： 平面度偏差數： 色帶 平面度偏差尺寸： (m 量測數據二 微小尺寸差量測 平面鏡規格： 比較塊規使用尺寸：( ) 干涉條紋誤差數： 色帶 微小尺寸差： (m 量測數據三 分厘卡測砧平行度檢測 平面鏡規格： 分厘卡規格： 附註說明：氦單色光波長 λ=0.588 (m 中州技術學院機械與電腦輔助工程系_精密量測實驗室 51003彰化縣員林鎮山腳路三段二巷六號04-8311498_2350 干涉條紋色帶 干涉條紋色帶 固定砧 活動砧 光波干涉條紋