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一种新颖的多核并行测试方法+ 于静 梁华国 合肥工业大学计算机与信息学院安徽台肥230009 摘要：文章提出了一种新颖的多核并行测试方法。该方法首先整合多个被测芯核的测试集，接着 应用多扫描链相客压缩和距离标记方法压缩测试数据。此方法数据压缩效率高，测试应用时间短．相 比其他并行测试方法，具有测试控制过程简单和硬件开销小的突出优点． 关冀词：并行测试多扫描链相容压缩距离标记法 1引 言 随着芯片制造业的发展，芯片集成度不断提高，芯片难以测试的问题显得越来越突出。庞大的测试数 采用多核的并行测试方法，就可以大大加速测试过程和减少测试成本。 目前一类常见的多核并行测试方法是通过设计一种用来进行测试数据传输的测试进入机制TAM(Test Access 应用时间，但要进行复杂的测试数据传输进度安排，还有一类方法是整合被测芯核的测试数据”“1。 本文提出了一种新颖的多核并行测试方法，该方法曾先整合多个被测芯核的测试数据H，根据相容关系 合并重叠的向量，有效减少测试向量个数。接着用多扫描链相容压缩方法和基于差分的距离标记法二次压 缩测试数据，距离标记法不仅具有较高的数据压缩率，而且只采用定长度的长短两种距离值，避免了数据 传输时需要复杂的通讯协议。 2多核测试数据的整合 在这个部分中，我们将描述如何实现不同芯核测试数据之间的整合。因为芯核的测试集中含有大量无 关位，那么就存在一些重叠向量，合并这些重叠向量可以有效减小总测试集测试向量的个数。 合并多个芯核的测试集，是利用相容关系”1来实现的。如图1所示，如果测试集中的向量长度不相等， 则以长向量为基准，在短向量后补无关位。测试集T-和T2经过合并得到新的总测试集TD。 Tl T1： 0xxxxxlxxloxxxxxxoxx0xxxxxlxxloxxxxxxoxx 0xxxxxllxxlxxxxxxoxx0xxxxxllxxlxxxxxxoxx 总测试集b 调整后的I2： T2匕=》 ∞01xxxxlxxloxxxxxxoxx OXXXXXllxxlxxxxxxoxx xlxxxxxxxlxxxxxxx0xlxxxxxxxlXXXXXXXOxx xxxxxxloxxxxxxxoxlxxxxxxxxloxxxxxxxoxlxx xxxxxxloxxxxxxxoxl 图1测试数据的整合 为了让多个芯核可以共享测试数据，我们选用最简单的总线结构，每个芯核都直接挂在总线上，测试 作者简介；于静，硕士研究生，主要研究方向为系统芯片测试；粱华国，博士、教授、博导，主要研究方向为内建式B／ST， 数字系统设计自动化，ATPG算法与分布式控制等。 690 计算机技术与应用进展·2006 应用时将测试集TD通过总线广播到各个芯核上就可以了。 3测试数据的二次压缩 3．1多扫描链相容压缩 文献【6】中提供了一种输入精简技术，受这种技术的启发，想到了压缩相容扫描链信息的方法来压缩测 试模式宽度。多扫描链的相容压缩就是首先将测试集按多扫描链形式排列，识别相容扫描链组，用一条扫 描链的信息替代一组扫描链信息，从而实现测试数据的压缩。如图2所示，被测电路含有m=4条扫描链， 经过相容合并后，得到m’_2个向量，这就是多扫描链的相容压缩。 OlxxxxlxxlOxxxxxxOxx、 X OXXXXxllxxlxxxxxxOxx，n；3 胍n 帆n胍k X