实验二电光调制实验-Physics@NCKU.doc

實驗二 電光調制實驗 實驗目的： 1. 了解熟悉電光效應(Electro-Optical Effect)。 實驗內容： KDP光調製(EOM)組基本特性的測量 EOM對頻率的響應 實驗原理： 電光效應是折射率因電場而變化的現象。光強度調變器（electro optic modulator）利用電光效應控制偏光。有垂直於光通過方向施加電場的橫形調變器、平行於光通過方向施加電場的縱形調變器。 橫形調變器 使方向角與Z軸夾450的直線偏光入射於450-Zcut電氣光學結晶的Y`方向，從Z方向（光前進方向的橫方向）施加電場。欲調變強度的雷射光為不規則偏光時，以偏光子形成直線偏光，在電氣光學結晶配製檢光子。 調變元件的透過光因常光線與異常光線的折射率之差而產生的相位差，成為橢圓偏光，以檢光子只使特定偏光成份通過，透過率因為橢圓偏光形而變動。施加於調變元件的電壓為0時，檢光子的角度若與入射直線偏光方位角度成直角，出射光被遮斷，其次，對λ/2電壓Vλ/2施加調變元件的話，調變元件的透過光成為方位角與入射直線偏光成正交的直線偏光，原態通過檢光子。因而，設入射光強度為I0，調變元件的施加電壓為0~Vλ/2時的透過光為I。 此時的透過I/I0為I/I0=sin2（φ/2），φ為常光線與異常光線的相位差，正比於施加於調變元件的偏壓。 但是在調變元件，本不依存於電場的結晶本身有自然複折射，即使不施加電壓，常光線與異常光線的相位差發生下式的θ`，θ`=2π/λ（nx`-nz）l，以DKDP結晶為例，X`方向的折射率nx=1.51，Z方向的折射率nz=1.47，光的透過距離為10mm，雷射光波長為0.63μm時，θ`=2.3*105度。 問題是自然複折射依存於結晶，設溫度變化為ΔT，此時，直接關連相位差的nx`與nz之差的變化分Δ∣nx`-nz∣時，Δ∣nx`-nz∣對ΔT的比率在DKDP為0.72*10-5/℃，因而，結晶溫度變化1℃時的相位差θ`成為θ`=2π/λ*Δ∣nx`-nz∣/ΔT*l，以l=50mm計算的話，θ`=1870，不實用。 所以，此橫形光調變方式在實用上需要某種溫度補正，有效的方法之一，串列同尺寸的兩個結晶，彼此配置成Z軸成直角，可抵消自然複折射對溫度依存性所致的相位差900，造成1800的相位差。亦即第二段晶造成-θ`的逆相位，通過2個結晶的光相位差為0。在兩結晶正溫度，此種溫度補正方法因光在結晶內的通過距離成2倍，半波長電壓Vλ/2成1/2，調變感度增高而有利。 縱形調變器 脈衝雷射振盪的Q開關之類要求高速性、寬帶性、溫度安定性而調變愈度不大成問題時，光調變器可用縱調變器。 縱形調變元件通過光的方向與電場方向成平行，入射光是用方位角與X軸或Y軸夾45度的直線篇光入射的Z-cut結晶。 設結晶長度為l，施加的電場強度為E z，雷射光通過此調變元件時的X成分與Y成分的相位差可表示成θ=2*π/λ*n03r63*l*E z ，設l* E z=V z ，則 Vλ/2=λ/(2* n03r63)。縱形調變器與光通過的距離無關，取決於結晶常數和波長。因結晶尺寸而無法用調變感度大的調變器。但是，光的入射開口可大可小，有溫度安定性，不需要特別的溫度校正。 實驗器材: He-Ne laser Polarizer (P1, P2) Pockels cell (內為KDP晶體) 高壓電源供應器 光度計 光具座 示波器 波形產生器 信號放大器 (OP amp) 實驗步驟： KDP光調製(EOM)組，基本特性的測量： (1)實驗裝置圖： 圖2.1 電光調制實驗裝置圖 (2)依照圖2.1的次序，將各光學元件與電路安裝完成，且完成光學路徑的準直工作。 (3)將Polarizer P2及Pockels cell自支架上移走，旋轉Polarizer P1使光感知器讀值為最大，此時雷射偏振方線與P1相同。 (4)將P2放入後，旋轉P2直到光度計讀值最小。 (5)將Pockels cell放入，旋轉cell直到光度計讀值最小，此時改變輸入電壓V，並不會改變光度計讀值，故可以確定Pockels cell中KDP晶體的光軸與入射光偏振面平行或垂直。 (6)紀錄Pockels cell旋轉台上的角度後，在順時針轉Pockels cell 450。 (7)由零伏特開始增加輸入電壓，每10伏特記錄光度計讀值一次，直到輸入電壓為400伏特為止。 (8)緩慢的將電壓歸零，反轉輸入電壓，由零伏特開始下降，每下降10伏特記錄光度計讀值一次，直到輸入電壓為-400伏特為止。 (9)將上述資料，繪成T-V的影響曲線。並由圖上求得1.Vλ/2 2.V0工作點電壓。(Vλ/2 與 V0 參