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* ここで一ヶ月実験休止 （真空保持したまま） 　　稼動時間 　　稼動時間 較正用軟Ｘ線発生装置のＸ線強度変化とスペクトル変化 松浦大介、林田清、鳥居研一、並木雅章、東海林雅幸、勝田哲、宮内智文、常深博　(阪大理) 幸村孝由（工学院大）、片山晴善（JAXA）他Astro-E2 XISチーム 概要 　我々大阪大学は日本５機目のX線天文衛星Astro-E2 に搭載されるCCDカメラXISの軟X線領域(0.2～2.2keV)での較正実験を行ってきた。実験では軟X線発生装置からの連続Ｘ線をグレーティング分光器を通して分散し、CCD素子に照射する。　軟X線発生装置はフィラメントより発生する熱電子を加速しターゲット（銀）にあて、制動放射光を利用する一般的な形式である。加速電圧は5kVあるいは1kVで使用し、ビーム電流は0.7mAあるいは0.3mAに１％以下の精度でコントロールした。ところが、発生するX線強度、スペクトルは長期的な時間スケールで変動していることがわかった。同じ検出器XIS-EU(XIS CCDのEngieering Unit)による測定を繰り返した結果、これらのX線強度、スペクトルの変化は長期的単調なもので、実用的には繰り返し測定の結果を使い補償できることがわかった。強度変化、スペクトル変化の原因は、長時間の装置の使用によりフィラメントのタングステンが蒸発しターゲットに付着したことで、制動放射の強度が時間による変動を示すのではないかと考えている。本発表では、この点に関して測定結果をまとめて紹介する。 １．スペクトロメーターと軟X線発生装置 ４．輝線、連続成分の強度変化(XISによる測定） ジェネレータ内のターゲットの汚れ具合（約２６０時間使用後） X線発生装置 陰極のフィラメントを高温に加熱し熱電子を放出させ、陽極のターゲットとの間に高電圧（１or５kV）をかけて加速しターゲットに衝突させてＸ線を発生させる。 また、強度を変化させるスリット幅やX線がまっすぐスリットに入射するようにターゲットの位置調整をハンドルにより行える。 連続Ｘ線をグレーティング分光器を用いて分散しＣＣＤ素子に照射。 XISを上下させることで入射X線のエネルギーを変化。 →連続的なエネルギーに対するレスポンスが取得可能。 フィラメント ターゲット フィラメント ターゲット 交換作業 2.　X線発生装置の運用とＸＩＳ較正 X線強度、スペクトルを変化させるその他の要素 ?グレーティング 大阪大学の実験では２種類の回折格子（グレーティング）を 用いている。 a.SAグレーティング：O-K吸収端に焦点を合わせてある b.SXグレーティング：Si-K吸収端に焦点を合わせてある 右図：XIS-EUで取得されたSA,SXグレーティングによるスペクトル それぞれX線ジェネレータを長期使用した後のスペクトル を同時プロットしてある。 ?稼働時間 ジェネレータの稼働時間によりX線強度が変化することが わかっている。 ※稼動時間：阪大実験ではX線ジェネレータ内の フィラメントとターゲットを数ヶ月で交換している。 交換後からのX線ジェネレータの総運転時間を示して いる。 ビーム強度調整のパラメータ ?熱電子の加速電圧 ?ビームカレント：フィラメンとターゲット間に流れる電流 ?ジェネレーター出力付近のスリット幅 ３．Ｘ線強度?スペクトル変化とターゲットの変質 Al Kα 稼働時間 黒：5.2時間 赤：87.7時間 緑：250.9時間 ＸＩＳ-EUにより同条件で取得されたスペクトルであるがジェネレータの稼動時間が増加すると、スペクトル全体の強度が変化する。 タングステン(W)のＭラインが時間が経過するに従い顕著になるのがわかる。 Ｘ線発生装置の稼働時間に伴うスペクトル変化 縦軸１ｆｒａｍｅ（８秒）当りのカウント数、横軸エネルギー ジェネレータ付近の概念図 長時間の使用によりターゲットは左写真のように表面が汚れる 汚れの主な原因はフィラメントからの蒸着と思われる。 まとめと今後の課題 大阪大学で使用しているX線の強度はジェネレータの稼働時間に伴い変動している。→検出効率を精度よく求めるために強度を補正する必要がある。 稼働時間に伴ってスペクトル中のタングステンのラインが著しく成長しており、強度増加の原因としてはフィラメント成分がターゲットに蒸着したためと考えられる。 連続成分とO-K以上のエネルギーの輝線はほぼ一様に増加しているのに対し、C-K輝線の強度は減少している。 連続成分に関してはXIS-FM実験前後のXIS-EUの測定結果をリファレンスにする方法（現在の方法）で十分な精度が望めるが、輝線成分(特にC-K）の測定に関してはより正確、確実な補正方法が必要である。0.3ke