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bxkSPC统计制程管制培训文稿
SPC統計製程管制 2004/12/15整理 SPC簡介 SPC概論 SPC是英文Statistical Process Control的字首簡稱,即統計過程控制。 SPC就是應用統計技術對過程中的各個階段收集的數據進行分析,並調整制程,從而達到改進與保證質量的目的。 SPC強調預防,防患於未然是SPC的宗旨 基本概念 1.總體(或母體) 研究對象的全體叫總體(或母體) 2.樣本(或子樣) 從一個總體中隨機地抽取n個個體X1,X2,…Xn 這樣取得的(X1,X2,…Xn )稱為總體X的一個樣本(或子樣) 3.樣本容量 樣本中個體的數目n稱為樣本容量 4. X﹕算术平均数(arithmetic mean) n個樣本數之平均數X1,X2,…Xn 5. R﹕全距 n個樣本數中最大值與最小值的差值。 6. MD﹕中位數 將n個數從小到大排列﹐若n個樣本數為奇數列﹐則中位數為其中間一數值﹔若n個樣本數為偶數列﹐則中位數為中間兩數之和的平均。 例﹕A﹕1﹐3﹐7﹐9﹐5。按從小到大排列﹕1﹐3﹐5﹐7﹐9﹐則中位數為5﹔ B﹕1﹐3﹐7﹐9﹐5﹐11。按從小到大排列:1﹐3﹐5﹐7﹐9﹐11﹐則中位數為6{(5+7)/2}。 7. 眾數 n個樣本數中﹐出現次數最多的數﹐可以為一個﹐亦可為二個或更多個。 例﹕10﹐9﹐9﹐8﹐10﹐9﹐8﹐6﹐9﹐8之十個數中﹐眾數為9。 基本统计概念 8.σ 标准差(standard deviation) σn = —————— = — [(x1-x)2+ (x2-x)2+…+ (xn-x)2] 什麼是控制圖 控制圖是對過程質量加以測定、記錄從而進行控制管理的一種用科學方法設計的圖。圖上有中心線(CL)、上控制界限(UCL)和下控制界限(LCL),並有按時間順序抽取的樣本統計量數值的描點序列,參見控制圖示例圖。 * 1.SPC概論 2.SPC作用及用途 3.管制圖製做和判讀 4.實際運用 X=-------- n n i=1 xi n n i=1 (Xi-X) 2 1 (n-1) 建立控制圖的四步驟 A收集數據 B計算控制限 C過程控制解釋 D過程能力解釋 建立X-R圖的步驟A A階段收集數據 A1選擇子組大小、頻率和數據 子組大小 子組頻率 子組數大小 A2建立控制圖及記錄原始記錄 A3計算每個子組的均值X和極差R A4選擇控制圖的刻度 A5將均值和極差畫到控制圖上 注意点 子組大小 生产量:如:生产量是10K 取n大于等于5 生产量几百/天;取2--5 频率 至少为25组数据;至少为100个数据;这两 个条件同时满足;是行业的惯例 组 数 几小时/次,取决于样本的差异 取樣的方式 取樣必須達到組內變異小,組間變異大 樣本數、頻率、組數的說明 組數的要求(最少25組) 當製程中心值偏差了 二個標准差時,它在 控制限內的概率為0.84 那麼連續25點在線內 的概率為: 每個子組的平均值和極差的計算 2 2 3 3 3 極差 98.2 100 99.4 98.6 99.6 平均 99 100 99 99 101 5 99 99 101 100 100 4 98 100 100 97 99 3 97 101 98 99 98 2 98 100 99 98 100 1 平均值和極差 平均值的計算 R值的計算 B計算控制限 B1計算平均極差及過程平均值 B2計算控制限 B3在控制圖上作出平均值和 極差控制限的控制線 建立X-R圖的步驟B 是3倍标准差的 修正值 ;A2与样本 的大小有关 先R圖再X圖 C過程控制解釋 C1分析極差圖上的數據點 C2識別並標注特殊原因(極差圖) C3重新計算控制界限(極差圖) C4分析均值圖上的數據點 超出控制限的點 鏈 明顯的非隨機圖形 超出控制限的點 鏈 明顯的非隨機圖形 C5識別並標注特殊原因(均值圖) C6重新計算控制界限(均值圖) C7為了繼續進行控制延長控制限 建立X-R圖的步驟C 控制圖的判讀 超出控制界限的點:出現一個或多個點超出任何一個控制界限是該點處於失控狀態的主要證據 UCL CL LCL 異常 異常 控制圖的判讀 鏈:有下列現象之一
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