八成分价键理论和X射线光谱分析.ppt

X射线的产生及其与物质的作用方式 1. X射线的发现 2. X射线的本质 3. X射线的产生 4. X射线命名规则 5. X射线与物质的相互作用 6. 三种常用的实验方法 1 ）特征X射线 X射线荧光光谱分析(XFS)和电子探计X射线显微分析（EPMA）都是以特征X射线作为信号的分析手段。 X射线荧光光谱分析的入射束是X射线， 而电子探计X射线显微分析的入射束是电子束。二者的分析仪器都分为能谱仪（EDS）和波谱仪（WDS）两种。 2 ）俄歇电子。 ?E ≈ E1 (Z) – E2(Z) – E3(Z) 2 ）俄歇电子 元素在样品中所处的化学环境同样会造成电子的结合能的微小差异，导致俄歇电子能量的化学位移，因此根据俄歇电子的动能可以确定元素类型，以及元素的化学环境。 俄歇电子谱仪（AES）。俄歇电子能谱仪所用的信号电子激发源是电子束。利用俄歇电子能谱可以进行定兴和半定量的化学成分分析。 3)光电子 hυ = EB+ EK 即光子的能量转化为电子的动能EK并克服原子核对核外电子的束缚EB=hυ - EK 3 ）光电子 各原子的不同轨道电子的结合能是一定的，具有标识性；此外，同种原子处于不同化学环境也会引起电子结合能的变化，因此，可以检测光电子的动能，由光电发射定律得知相应能级的结合能，来进行元素的鉴别、原子价态的确定、以及原子所处的化学环境的探测。 利用光电子进行成分分析的仪器有X射线光电子谱仪（XPS）和紫外光电子谱仪（UPS），分别采用X射线和紫外光作为入射光源。 4）特征能量损失电子。 当入射电子与样品原子的核外电子相互作用时，入射电子的部分能量传递给核外电子，使核外电子跃迁到费米能级以上的空能级，由于跃迁的终态与费米能级以上的空能级分布有关，而始态为与核外电子的初始能级，因此跃迁吸收的能量由原子种类决定，并受周围化学环境的影响。 4）特征能量损失电子。 利用特征能量损失电子进行元素分析的仪器叫做电子能量损失谱仪（EELS），它作为透射电子显微镜的附件出现。和同为透射电镜附件的能谱仪（EDS）相比，EELS的能量分辨率高得很多（为0.3eV）且特别适合轻元素的分析 3.各种成分分析手段的比较 3.1 X光谱的特点和分析手段比较 3.2电子能谱的特点和分析手段比较 3.1 X光谱 X光谱的X光子可以从很深的样品内部（500纳米～5微米）出射，因此它不仅是表面成分的反映，还包含样品内部的信息。 XFS适用于原子序数大于等于5 的元素，可以实现定性与定量的元素分析，但灵敏度不够高，只能分析含量超过万分之几的成分；而EPMA所用的电子束激发源可以聚焦，因此具有微区（1μm）、灵敏（10-14g）、无损、快速、样品用量小（10-10g）等优点。 X光谱的分析仪器分为能谱仪（EDS）和波谱仪（WDS）两种。能谱仪具有采谱速度快；灵敏度高，可比波谱仪高一个数量级；结构紧凑，稳定性好的优点。波谱仪能量分辨率较高，为5～l0eV。 3.2电子能谱 电子能谱仅是表面成分的反映，适合表面元素分析和表面元素价态的研究。 X射线光电子能谱（ESCA或XPS）和俄歇电子能谱（AES）是电子能谱分析技术中两种最有代表性的的方法。 AES一般用于原子序数较小（Z33）的元素分析，而XPS适用于原子序数较大的元素分析。AES的能量分辨率较XPS低，相对灵敏度和XPS接近，分析速度较XPS快。此外AES还可以用来进行微区分析，且由于电子束斑非常小，具有很高的空间分辨率，可进行线扫描分析和面分布分析。俄歇电子化学位移要比XPS的化学位移大得多，更适合于表征化学环境的作用。 * Because of the channel design,Venus 200 minilab is a low cost machine compared to the conventional WDXRF equipment. The equipment is also easy to operate, reliable and it is not necessary to re-calibrate it before every measurement. Simply by running a monitor sample the stability of the spectrometer can be checked. As all WDXRF spectrometers, Venus 200 minilab give also reproducible results. * Because of the channel design,Venus 200 minilab is a low cost machine compa