支柱绝缘子1讲义.docVIP

支柱瓷绝缘子及瓷套超声操作方法 检测准备 检测前应了解设备的名称、支柱绝缘子及瓷套及瓷套的外形结构型式、尺寸材质。 2 编写依据 《产品使用说明书》 《支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测》 3 人员要求 3.1操作数字超声仪的检测人员都应经过专业培训，并持有电力部颁发的Ⅰ级或Ⅰ级以上 的超声波检验支柱瓷绝缘子及瓷套人员资格证书。 3.2操作人员应熟悉所用设备的基本结构、各部分的作用及本规程。 3.3操作人员应熟悉设备的各部分的作用及本规程。 3.4作好设备的维护保养工作，使之处于完好状态。 4检测前准备 4.1检测前准备：应充分了解设备的有关状况，查看被检支柱瓷绝缘子及瓷套的外形尺寸、结构类型及产品标识和表面状况等。 4.2检测区域的确定：主要检测区域是上下瓷件端头与法兰胶装整个区域，重点是法兰口内外3mm与瓷体相交的区域，如图1-1所示。 （a）爬波探头检测支柱瓷绝缘子表面缺陷；（b）纵波斜入射探头检测支柱瓷绝缘子内部及对称外表面缺陷；（c）双晶横波斜探头检测瓷套内部及内壁缺陷 4.3声速测定：支柱绝缘子及瓷套到高强瓷的声速范围在5800~6700m/s之间，差别约为900 m/s，声速测定方法如下： （1）使用外卡尺测出支柱瓷绝缘子直径，至少每隔90°测一点，做好记录并将测量数据输入仪器。 （2）将5MHzΦ10mm直探头置于外卡尺测点，找到一次底波，波高整调＞80%满屏高度，并将其移到到闸门范围内，提高灵敏度，再找出二次底波回波＞80%满屏高度,并将回波限制在闸门内，仪器将自动进行测试并显示出声速值。 也可采用其它方法测定声速。 4.4探头（曲面）的选定：一般可在支柱瓷绝缘子及瓷直径变化20mm范围内选用先用一种规格弧度的探头，但仅允许曲率半径大的探头可以探测曲率半径小一档的瓷件（一档为20mm）。支柱瓷绝缘子及瓷套直径大于Φ220mm时采用平面探头。 4.5检测方法的选择：支柱绝缘子及瓷套的超声波检测采用下述三种方法，当用一种方法探伤时如发现缺陷，可选用另一种方法验证，也可用参考试块作比对试验，以提高检测结果的准确性，检测方法选择如下： （1）支柱绝缘子及瓷套法兰胶装区表面和近表面缺陷的检测采用爬波法； （2）支柱绝缘子内部和对称侧表面或近表面缺陷的检测采用小角度纵波斜入射法； （3）瓷套内部和内壁缺陷的检测采用双晶斜探头横波法。 5小角度纵波检测 5.1 探头入射点的测定：如图1-2所示，将探头楔块的圆弧面置于校准试场相同弧面的棱角上，前后移动探头，棱角反射波最高时试块棱角处对应的点探头入射点，这种方法称为棱角反射法。 图1-2探头入射点的测定 图1-3探头折射角的测定 5.2探头折射角的测定：斜探头K值是指被检工件中折射角β的正切值（K=tanβ）,采用校准试块测定。找出试块上深20mm、Φ1横通孔最大反射波，调整到80%满屏高度，如1-3所示，并测出探头前沿至试块端面的距离 。 （1-3） 式中 K——正切值； —— 折射角； ——探头前沿至试块端面的距离，mm； 　　　　 　 ——探头前沿距离，mm； 5.3扫描速度调整：将扫描时基线范围按比例调整在200mm，可以满足直径Φ200mm内的支柱瓷绝缘子的检测，＞Φ200mm可将范围调定在250mm或者300mm。 5.4检测灵敏度的确定：采用校准试块调整检测灵敏度。如将频率5MHz、入射角6°的探头置于试块上，找出试块上深40mm、Φ1mm横通孔最大反射波，调整到80%满屏高度，此录敏度相当于外径40mm支柱瓷绝缘子的检测灵敏度。试验结果表明，支柱瓷绝缘子的外径每增大10mm，检测灵敏度增益提高2dB，依次类推。当支柱瓷绝缘子的声速＜6100m/s时，需再提高2～4dB。 5.5探头的选择：根据被检支柱瓷绝缘子的直径选择相应规格的探头。 5.6扫查方式：应根据检测方法及检测的具体要求、工件的形状和表面状态等选择适宜的扫查方式。在选择扫查方式时，要严防漏检，保证声速能覆盖到工件的整个检测区域。支柱瓷绝缘子及瓷套检测时，要严格控制探头的扫查速度。 探头的有效直径大，仪器的重复频率高，则扫查速度可以快一点。探头的有效直径小，仪器的重复频率低，则扫查速度必须减慢，扫查区域要有一定的覆盖。 5.7缺陷指示长度的测定：缺陷长度的测定分为绝对灵敏度法和相对灵敏度法。 绝对灵敏度法是一种以缺陷最大回波高度为基准的测长方法。绝对灵敏度测长的方法是当发现缺陷回波时，找到时回波下降的相对于最大高度的某一