投影结构光测量.docVIP

  1. 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
  2. 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  3. 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  4. 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  5. 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  6. 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  7. 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
投影结构光测量

相位转换算法推导(A mapping algorithm) 已知条件 P0—投影到参考面光条间隔,mm; (如何确定P0?) O—相机光轴与参考平面的交点,在像素 坐标平面上O点的像素坐标对应记 录光条中最大亮度的感光单元,记为 u0。 参考平面基本与相机光轴垂直。 假设;为便于分析设O点处光强(即灰 度值)的相位角为0。 图1 操作顺序与测量记录 调整相机的摆放位置,使得像素坐标的一个方向与光条垂直,同时图像平面与参考面尽量平行。 投影仪将等间隔分布的光条投射到参考平面上,产生明暗相间分布均匀的条状图形,图形的亮度沿x方向服从正弦分布关系。 根据测量要求和光条在物体上的投影方向,在物体上选择并布置要测量采样的位置(如C点,见图2),然后依据选定的采样位置,在相机的像素坐标面上找出与采样位置相对应的感光单元uc(即像素坐标[ui,vi]i=1, 2,…,M),最后将找出的像素坐标[ui,vi]保存为矩阵或表格的形式,以便测量时用。 将P0分成N(≥3)份,然后把光条投射到参考平面上,同时用CCD相机拍摄光条的图像(记录像素坐标[ui,vi]上的灰度值,以便分析用),每拍一次图像后移动光栅,使参考面上的光条位移P0/N距离后,再拍摄光条图像,这样拍摄获得光条图像的序列照片I1,I2,….IN。 同样,对被测物体重复2和3步骤,获得投影到物体上的光条图像的序列照片。 分析与数据处理 在第一幅图像上,在主点附近找一光条图像,并检测该光条图像的灰度值,找出最大灰度值所对应的像素坐标(即CCD感光单元),将该像素坐标看着为O点的像素坐标,记为u0。 由于相机相对参考平面的位置不动,所以O点在各幅图像上的像素坐标均为u0。 图2 参考图1和图2,确定C的位置。由于光条图形的亮度沿x方向服从正弦分布,所以C点的亮度Ic可以表示为: (1) 这里,m=OC/P0取整,(即在相邻两条亮带之间的任意位置)。 在实际中,OC往往是未知的,现利用图像的像素信息确定m。见图2,首先通过对亮带灰度值最大位置的检测,确定其像素坐标;然后检测出相邻两个亮带灰度值最大的像素坐标,而这两个像素坐标之差就是Px。由于图像平面与参考面基本平行,且投影仪距参考面较远,所以检测各光条得到的Px值相差不大,为提高测量精度可以检测得到多个Px,通过求平均提高Px值的精度。 检测距C点最近光条的最大灰度值对应的像素坐标,如图2 所示。利用O点的像素坐标u0,从检测的C点像素坐标uc开始,朝u0方向进行整像素搜索,并利用已知的亮带最大灰度值(实际中,灰度值上下可能有变化),确定距uc最近的亮带灰度值最大位置的像素坐标uc1,而,这样可以确定OC = m ?P0。 分析确定(1)式中的,由于本方法是利用进行测量的,所以前面第3步选定的M各点,每个都需要确定其相位角。现以图2中的C点为例,介绍确定相位角的方法。根据前面第4步,以N=4为例。拍摄4幅图像在像素坐标uc处得到4个灰度值Ic1、Ic2、Ic3、Ic4。由于光栅的移动,这4个灰度值是不一样的。根据文献[1],相位角可表示为: (2) 由(2)式可得到,同理可得与C点对应的被测物体上D点的相位角,见图1。 确定图1所示的AC。根据文献[1]P3106介绍:The intensity observed at D is the same as that which would have been observed at A on the reference plane,而文献[2]直接指出:。由前面的分析可知,相位角与点在参考面上的位置有关系: , (3) 见图1,被测物体上D点到参考面的距离,即物体高度: (4) 这里可由投影仪与相机间的基线距离及投影仪到参考面的距离确定(具体见文献[2]PP186(5)式)。用(4)同样可以确定其余各点的高度。 文献: [1] V. Srinivasan, H. C. Liu, and M. Halioua, Automated phase-measuring profilometry of 3-D diffuse objects, APPLIED OPTICS, 15 September 1984 / Vol. 23, No. 18, pp.3105-3108. [2] V.

文档评论(0)

panguoxiang + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档