制cup不良项目改善.pptVIP

制三课侧封cup不良改善项目 实施部门:PE/PROJ/PQA/MFG 项目组长:肖俊辉 项目协助:苏维楠 开始日期：2012.05.24 结束日期：2012.06.2 目录 组织架构 项目进度 Cup不良的定义 cup不良检验标准标准化 可能造成cup不良的原因 改善措施实施跟踪 结果确认 改善小组组织架构 项目进度表 选择改善项理由 1.由于电芯侧封cup出现频繁出现造成返工增加电芯成本。 2. 电芯侧封cup大时电芯裁边后很难保证安全有效封印宽度。 3.若电芯cup大裁边后有效封印宽度不够流入客户端出现异常会导致批量性退货造成公司严重损失。 4.生产过程中统计四个月的返工单数据数量，cup不良一直是主要返工问题，是巨大的内部质量损失成本： cup不良定义 1. 封印内线到电芯主体侧面边缘位距离大叫CUP大。 2.封印内线到电芯主体侧面边缘位距离小叫CUP大。 CUP不良检验标准化 造成Cup不良原因分析 挡条高度、厚度 压电芯压块松动 封头位到挡条的距离是否过大 封装设备电芯宽度限位距离是否过大 封头比挡条过高或者过低 改善对策实验 1.将分别换成挡条高度换成2.5mm、3.0mm进行实验记录cup数据(理论cup=挡边厚度0.2+0.3挡边到封头距离）。 改善对策实验 将放电芯内腔调至电芯宽度、压块固定（理论cup=挡条宽度0.3+0.2挡条到封头距离