T7122M-I工业级读卡模块说明书.pdfVIP

T7122M-I 工业级读卡模块说明书 一、概述 T7122M-I 读卡模块在保证软硬件接口与 T7122M 完全一致的前提下，对射频产生 电路和载波检测电路进行彻底地改进。保证在温度达到－40℃时，读卡模块仍能正常工 作，尽可能减小温度下降对读卡距离的影响。试验表明，温度从＋25℃降到－40℃时， 读卡距离减小值约 1.5cm。 应用说明书请参见附录《T7122M 射频 ID 卡读卡模块说明书（V2.1）》。 二、特别注意事项 1、实际应用中，读卡线圈几乎无法避免外围金属的影响（如金属外壳、PCB 板等 影响），从而导致线圈电感量发生很大的变化，破坏了电容和电感的谐振频率。在 T7122M 采用自动调整频率的方法来尽量接近谐振的频率，但是频率改变仍可导致读卡距离变 短。因此，在 T7122M-I 中不再采用自动频率调整电路，而采用外加补偿电容来补偿线 圈电感量减小，补偿电容量的确定如下。 2、补偿电容接入的位置如下图。 1 2 3 4 5T712XM So Sc k C P M se l G N D V cc G N D L1L2 C? 30-560P 图一、补偿电容接入位置 3、补偿电容量的确定： 在不同的机型中，因外壳、线圈窗口、周围的电路板的材料、位置、形状 各不相同，所以对天线线圈的影响也不一样。确