光电技术与试验第2章光电探测器的校正选编.pptVIP

光电探测器校正技术 光电探测器校正概述 变光度的实现 漫射体及其在光电检测中的应用 光谱校正的主要应用 1 2 1.光电探测器的选用原则 在设计光电检测系统时，首先根据测量要求反复比较各种探测器的主要特性参数，然后选定最佳的器件。其中，最关心的问题有以下5个方面。 (1)根据待测光信号的大小，确定探测器能输出多大的电信号，即探测器的动态范围。 (2)探测器的光谱相应范围是否同待测光信号的相对光谱功率分布一致，即探测器和光源的光谱匹配。 (3)对某种探测器，它能探测的极限功率或最小分辨率是多少——需要知道探测器的等效噪声功率，需要知道所产生电信号的信噪比。 (4)当测量调制或脉冲光信号是，需要考虑探测器的响应时间或频率相应范围。 (5)当测量的光信号幅值变化时，探测器输出的信号的线性程度。 除上述几个问题外，还要考虑探测器的稳定性、测量精度、测量方式等因素 3 2. 光量或辐射量与探测器之间的相关属性 实际应用中的光电探测器，由于本身的灵敏度、光谱特性、光特性、均匀性等方面的不同，以及它们所接收光束在强度、方向、光谱和偏振等特性上的差异，所以讨论两者间如何合理有效地匹配是一项重要的技术内容。 光量或辐射量与探测器之间主要有以下儿方面的相关属性: (1)时间属性;(2)光谱特性; (3)强度特性;(4)空间分布特性。 为使光电探测器能正确反应光量的特性，就需对其进行多方面的校正。其中主要包括：对光度强弱的校正；对光束漫射的校正；光谱特性的校正等。 光电探测器校正技术 光电探测器校正概述 变光度的实现 漫射体及其在光电检测中的应用 光谱校正的主要应用 4 5 1.变光度的必要性 变光度的实现 2. 对减光手段的基本要求 (1) 要求减光器无选择性，光束经衰减后不改变本身的光谱成份比，即光束各光谱成份按相同比例衰减。这对许多测量，特别是光度印色度的测量将十分重要。 (2) 要求减光器能精确地控制衰减量，光照下许多物理、化学过程的研究结果是要求找出一系列光照条件下的反应特性。于是施加的光照值必须准确给出，因此分段或连续减光器的衰减量就需精确控制。 (3) 要求减光器输出光束的几何形状，这对某些场合十分必要。如要求均匀减弱某照射面上的照度，而企图用可变光阑减光，虽然总光量得到衰减，但这只改变了光束的截面，却达不到均匀减光的目的。 (4) 对减光器偏振性的要求，当光束偏振性变化时，会使光电探测器的灵敏度发生变化。因此，在一般情况下，不应采用使偏振性发生变化的减光装置。 (5) 对减光器的其它要求，这些要求如可变光度的范围、连续性、准直和漫射性等。 所谓变光度就是使某辐射光束在强弱上发生变化。具体地说是将光源或目标发出的光束利用衰减的手段，使光量满足探测接收的需要。 6 3.一般变光度的方法 (1) 吸收滤光片 它用有一定吸收的玻璃、塑料或明胶片制成，是依靠吸收部分入射辐射达到减光的目的。有时也采用液槽内几种材料配比的溶液进行吸收来减光。此外，照相底片的黑化乳胶等也属这类减光器。 平板式减光器对光束特性有一定影响，在会聚光路中，垂直光轴插入平板时，会引起成像点的纵向位移。位移量D的大小为 光束几何位置的变化 7 当插入光路的平板与光轴不垂直时，还要引起像点的横向位移。横向位移量L为 光束的横向位移 8 (2) 薄膜滤光片相射线分离器 这类减光器是在玻璃或与其类似的衬底上．形成多层介质膜或金属薄膜，通过膜层的增反干涉或反射使透射辐射得到衰减。这类减光器可以制成整片均匀衰减的形式，也可制成透射比随位置不同而连续变化衰减的形式。但后者工艺复杂、精度较差，且只能用于细光束的条件下。 这类减光器透射比的精度与玻璃滤光器类似。为获得大的衰减系数，可采用多片堆积，并通过标定来确定其衰减系数。 9 (3) 筛网或多孔板 筛网用细丝编织而成，并进行黑化处理。如用不锈钢丝织成的300目的筛网、其方形开口边长约为40μm。还可使筛网相对于光轴产生不同倾斜来调整其透射比。也可在金属板上用腐蚀法制成多孔板型式的减光器。 (4) 膜片光阑或狭缝 是用固定的或可变的圆孔光阑或狭缝组成，通过改变射束的横截面积实现减光。 10 (5) 偏振减光器 这类减光器可用两偏振器构成，如图4-3(a)所示。第一个偏振器不动，第二个偏振器绕光轴转动，按马吕斯定理输出光通量Φ, 偏振减光器 为适应多种场合的应用，可采用图4-3(b)所示的三偏振器系统，P1和p3偏振器主方