同位素密度扫描成像系统的数据处理方法.pdfVIP

事 29 ~息革 6 期 杨振.ft摔计算扶术 2fXJ1年 11 月 文章编号: 1∞l一1749(2∞7) 06--{)520-{)4 同位素密度扫描成像系统的数据处理方法 林娟，度先固，任家富，陶永莉，穆克亮 (成都理工大学，成都 61∞59) 摘 要:这里介绍了自行研制的同位亲密度扫描成像革统，在考古应用中的数据来集以及数据 处理方法。此方法在野外和现场文物埋藏情况的分析方面，具有十分重要的意义。通过对考古 现场(金沙遗址)的实际应用发现，其分析结果清楚明了，探测深度可达 0.5 m -0. 8 m。 关键词:同位幸密度扫描成像:数据处理方法:考古应用 中图分类号: P 631. 6 文献标识码: A 0 前言 中国的古陶墅、青铜器、金器等金属文物是中 国古代文明的瑰宝，对世界文化和现代文明都具有 重要的影响。传统的考古手段主要从地层学、器物 类型学等宏观方面研究各个历史时期主要文物，并 取得了许多成果。但是，如何精确探究文物所藏， 已成为目前最有待解决的问题。阿位素密度扫描 成像是以不同物质，对不同能量 y 射线的反射不 同作为原理，通过对平面介质密度的测定，数据的 非线性拟合，以及利用计算机成像来了解介质密度 分布的一种方法。作者用该方法在考古现场挖掘 中进行密度扫描成像，并根据处理的结果指导发 掘，取得了事半功倍的效果。 I 系统工作原理 本系统主要是测量 γ 射线穿过介质和物体衰 减厉的射线强度。 γ 射线通过物质时，产生一系列物理现象。 (1)当能量较小时，主要有光电效应，康普顿 啕吴有制11效应。 (2) 当其能量大于1. 02 MeV 时，可形成电子 对效应。 (3) 当 y 射线能量低于 1∞ keV 时，弹性散射 或相干散射占有重要地位。 γ 射线与带电粒子完全不同，带电粒子与物质 相互作用时，在一连串的电离或激发事件中，逐渐 损失其能量。而γ 射线在与物质相互作用时，则在 一次事件中便能导致完全的吸收或散射。 当一束平行的 γ 射线束垂直通过吸收屏(吸 收物质)时，γ射线与物质发生了相互作用，有的光 子全部被吸收;有的光子失去一部分能量而改变了 原来的运动方向;有的光子则与物质发生弹性散 射。总的来说，它们都构成了衰减。实验证明，其 衰减服从指数规律: 1 = loe-四(1) 式中 ι 为起始 γ 射线照射量率 ; 1为通过吸收物 质厚度为..( cm)后的 γ 射线照射量率;μ 为射线 衰减系数. cm斗。 μ 的物理意义从式(2) 可得: d1 =-μJdx dl μzlf(2) 故μ 的物理意义是:当射线穿过厚度为 dx 的 介质后.损失的 γ 射线照射量率( d1)与人射 γ 射 线照射量率(1)之比。 μ 的大小与 γ 射线的能量，以及吸收介质密度 p 等因素有关。密度越大，单位体积中原子、电子 数越多，γ 射线照射量率衰减的就越快，γ 射线表 基金项目.国事自然科学基金 ;科技部国际合作重点责助项目 (2∞5DF!Oω10) 收稿日期: 2ω7-01-02 6 期 林销等: 向往余密度扫描成像系统的数据处Jl方法 521 减系数μ也就愈大。为了方便起见，常用质量衰减 系数ι(p... = JI/iρ)来描写 γ 射线在物质中的衰 减程度。当射线通过不均匀介质的时候，其衰减的 程度与介质的密度成反比关系(非线性} 。 2 数据处理 根据工作过程，我们将同位素密度扫描成像系 统分为三个步骤，自P:数据测量、数据接收、数据处 理。 在进行泌量之前，首先进行探测器探测效果修 正，以及系统的参数设置，确定起始坐标，然后进行 浏量。 2.1 探测器探测效果修正 由于同位素密度成像系统中采用二十个同类 型的探测器，为了保证对同一强度 y射线的计数 率梅同，必须对每一个掠浏器进行必悍的刻度或校 正。每个探测器的探测效果与黯别阀、权分道宽、 探测器的安装等有一定的关系。当探测器加工、安 装完毕后，需进行现场校正，其基本方法是:固定某 一个探测缕的位置为校正位置.用每一个探测器在 此处测量十组数据取平均值，然后把此处探测器的 计数傲归一.则可得到一个归一系数。 GZZω 其中 N，为探测器 i 在 0 位置处理的计数率;N，。 为探测器。在0 位置处理的计数率。 最后，每一点的测量记录数据，就可用妇-化 系数来计算记录数据: N N, Ci ? Nj (4 ) 式中 C，为归一化系数; N， 为探测器 i 在先前J点 的tt数率。 2.2 参数设置 主要设置测量方式、测量时间、计数道宽、测量 点的起始坐标、扫描步长、记录文件名称等参数。 根据这些参数，计算机可以计算出当前测量点的坐 标。 2.3 、数据源量 计算机发命令给每个探测器的多道脉冲幅度 分析器，每个多道