CPK知识详解讲稿.pptVIP

CpK 基礎培訓教材 目錄 第一部分 　　　　基本概念與公式介紹 第二部分 　　　　提高过程能力指数的途径 第三部分 　　　　過程能力的調查 第四部分 　　　　Cpk的應用 第一部分 基本概念與公式介紹 何謂『統計』？ 統計: ---收集的數據經過計算從而得到有意義的情報的活動 何謂『有意義的情報』？ 至少應包括：『集中趨勢 + 離中(離散)趨勢 』 “集中趨勢” ?? “平均值” 平均值 概念: 表示数据集中位置，數據算術平均數， 常用符号 表示。 N:表示樣本數 例:有统计数据2,3,4,5,6五个数据，则其平均数据为： 2+3+4+5+6 X = ————— =4 5 _ “離中(離散)趨勢” ?? 全距极差 R ?? 標準差 σ 全距（極差） 概念: 將樣本資料按大小順序排列，數列中最大值Xmax與最小資料Xmin之差 稱爲樣本的極差。常用符號 R 表示，其計算公式爲： 式中 Xmax 表示一組數據中的最大值， Xmin 表示一組數據中的最小值 例如：有3，6，7，8，10五個資料組成一組，則極差R=10-3=7 R=Xmax – Xmin Sigma (标准偏差) ? 由此可見 Sigma (?)即是----變異, 學術名詞叫标准偏差 Sigma (?) 表示數據的离散程度 什么是標準差σ? (7) (1) (3) (5) A槍手 b槍手 C槍手 飛標圖解 S=樣本標準差 因為標準差是用數據整體計算，所以當數據量大太時，就不便以操作,而且不符合現場需要。所以一般情況下, 會用樣本標準差S來代替δ S 樣本標準差 S 樣本: 從總體中隨機抽取的若干個個體的總和稱爲樣本。 組成樣本的每個個體稱爲樣品。 另一种计算公式 過程能力分析 Cpk 、 Cp、 Ca A: 每件産品的尺寸與別的都不同 數據的分布 B:但它們形成一個模型，若穩定，可以描述爲一個分佈 C:數據會有不同的分布型態，正態分布為 鐘型 CP Capability of Precision 精確度： 是衡量工序能力對産品規格要求滿足程度的數量值，記爲Cp。通常以規格範圍T與工序能力 6* δ的比值來表示。即： ? ? ? ? ? ? ? ? 不精密 精密 Cp=T/6δ=規格公差/6*標準差 規格公差=USL-LSL=規格上線-規格下線 精密度表示什麼 1. 製程精密度，其值越高表示製程實際值間的離散程度越小，亦即表示製程穩定而變異小（離中趨勢，與σ有關）。 2. 當公差範圍內能納入愈多的σ個數，則此製程表現愈好，其本身是一種製程固有的（已決定的）特性值，代表一種潛在的能力 Cp=T/6δ=規格公差/6*標準差 規格公差=USL-LSL=規格上線-規格下線 精密度評價 Cp 值 製程等級 圖 例 說 明 Cp ≧ 1.67 較佳 表示:工序能力過分充裕，有很大的貯備 不合格品率p＜0.00006% 1.67 Cp ≧ 1.33 A(合格) 對精密加工而言，工序能力適宜；對一般加來說工序能力仍比較充裕，有一定貯備 不合格品率0.00006%≤p＜0.006% 1.33 Cp ≧ 1.00 B(警告) 對一般加工而言，工序能力適宜 不合格品率0.006%≤p＜0.27% 1.00 Cp ≧ 0.67 C(不足) 工序能力不足，不合格品率較高 不合格品率0.27%≤p＜4.55% CaCapability of Accuracy 準確度: 代表製程平均值偏離規格中心值之程度。若其值越小，表示製程平均值越接近規格中心值，亦即品質越接近規格要求之水準（集中趨勢，與 有關），值越大，表示製程平均值愈偏離規格中心值，所造成的不良率將愈大） 準確度好 準確度差 LSL USL M M USL= 規格上限 LSL= 規格下限 M = 規格中心 LSL USL CaCapability of Accuracy 準確度 USL=規格上限 LSL=規格下限 T=規格允差. ，T =ULS - LSl 制程平均值-規格中心值 規格允差之半 = Ca = * 100% 即偏移系數( k ) = 偏移係數