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形位公差基础理论Basic Theory of Form and Location Tolerance 1 XX-XX-2015 内容概要(Outline) 参考标准 基本观念 形位公差和测量 公差原则 最大实体原则(公差判定) 参考标准 ASME Y14.5M-1994(几何尺寸公差) GB1958-80(形状和位置公差检测规定) GB 11337-89(平面度检测) GB/T1182-1996（形状与位置公差） 基本观念 公差值为绝对值,它是实际要求偏离理想要素的变动量(范围),不存在负值 公差分为形状公差和位置公差 形状误差是独立要素,与基准无关 位置误差分为定位和定向误差二类 为什么标注形位公差? 装配及互换性 功能(运动精度/密封性) 成本 Example1 直径处处相等,但实配有间隙,影响功能 直径处处相等,但轴弯曲变形,不能实配 Example2 长宽ok,垂直度不好,影响实配 同轴度不好,影响实配 几何公差分为五大类 8 8 分 类 项目 特征符号 是否需要基准 形状公差 形状 直线度 否 平面度 否 圆度 否 圆柱度 否 形状或位 置公差 轮廓 线轮廓度 是或否 面轮廓度 是或否 位置公差 定向 平行度 是 垂直度 是 倾斜度 是 定位 位置度 是 同心度(对中心点) 是 同轴度(对轴线) 是 对称度 是 跳动 (动态) 圆跳动 是 全跳动 是 零件之几何特征 9 9 尺寸偏差 形位误差 表面波纹度 表面粗糙度 晶体、晶格 要素 轮廓要素 中心要素 单一要素 关联要素 被测要素 基准要素 理想要素 实际要素 要素 尺寸要素和非尺寸要素 基准的通用术语及定义 基准目标 理论正确尺寸 参考尺寸 基准目标(Datum Targets) 理论正确尺寸(Theory Dimension ) 参考尺寸(Reference Dimension) 平面度误差（Flatness） 定义: 实际平面相对其理想平面的变动量,理想平面的位置应符合最小条件 公差带：距离为平面度公差值f的两平行平面之间的区域 平面度标注 18 18 平面度的测量 工具：厚度塞尺+大理石平台/CMM/平晶 方法1：将产品被测面放置于大理石平台上，用厚度塞尺测量，记录通止数值。 方法2：使用CMM在被测面上取若干点，通过软件拟合计算出所需要的被测面平面度实际测量值。 平面度评定方法原则 1.最小包容区域法 2.最小二乘法 3.对角线平面法 4.三远点平面法 第1种方法的评定结果小于或等于其它三种方法 最小包容区域法 1.定义:以最小区域面SMZ作为评定基面的方法,按此方法求得平面度误差值fMZ,见下图所示: 公式: fMZ =f =dmax-dmin 式中: dmax,dmin 各测得点相对最小区域面SMZ的最大,最小偏离值. d值在SMZ上方取正值,下方取负值. 最小包容区域法 2.最小包容区域判别方法: (1)三角形准则: 三个高极点与一个低极点(或相反),其中一个低极点(或高极点)位于三个高极点(或低极点)构成的三角形之内或位于三角形的一条边上,见下图: 最小包容区域法 (2)交叉准则: 成相互交叉形式的两个高极点与两个低极点,见下图所示: 最小包容区域法 (3)直线准则: 成直线排列的两个高极点与一个低极点(或相反),见下图所示: 最小二乘法 定义:以最小二乘中心面SLS作为评定基面的方法,按此方法求得平面度误差值fLS,见下图所示: 公式: fLS =dmax-dmin 式中: dmax,dmin 各测得点相对最小二乘中心平面SLS的最大,最小偏离值. d值在SLS上方取正值,下方取负值. 对角线平面法 定义:以对角线平面SDL作为评定基面的方法,按此方法求得平面度误差值fDL,见下图所示: 公式: fDL =dmax-dmin 式中: dmax,dmin 各测得点相对对角线平面SDL的最大,最小偏离值. d值在SDL上方取正值,下方取负值. 三远点平面法 定义:以三远点平面STP作为评定基面的方法,按此方法求得平面度误差值fTP,见下图所示: 公式: fTP =dmax-dmin 式中: dmax,dmin 各测得点相对三远点平面STP的最大,最小偏离值. d值在STP上方取正值,下方取负值. 平面度、 共面度、 翘曲度三者区别 被测要素是一连续平滑的面 被测要素是多个小端面(点) 被测要素是一个(易变形)大面 治具加工基准面 IC,背光板, BGA/LGA Motherboard, PC板 特 征 适合对象 量测方法 项 目 平面度 (Flatness) 共面度 (Coplanarity) 翘曲度 (