第4章原子吸收光谱法3综述.ppt

4.5 干扰及其抑制方法interferences and elimination;4.4 定量分析方法 method of quantitative analysis; 也可由标准溶液测得的对应数据求出A～c（m）一元线性回归方程，然后将测得的试样吸光度值带入，计算出试样浓度值。; 基体：在试液中，除了待测组分之外的其他成分叫试液的基体。 基体效应：由于试样和标准之间的基体差异而引起测定误差的现象。 要消除基体效应，就应使试样溶液和标准溶液的基体尽可能一致。;4.4.2 标准加入法;（二）复加法; 使用标准加入法的注意事项： （1）应在 A～c 呈线性关系的范围内测定； （2）加标量应适当； （3）能克服基体效应的影响，但不能消除背景吸收干扰。; 4.5 干扰及其抑制方法 interferences and elimination ; 化学干扰通常是指待测元素在溶液或蒸气中与其他组分发生化学反应，生成难解离的化合物，从而使基态原子数减少、吸收减弱的现象。 例如： 铝、硅、硼、钛、铍等元素在火焰中易生成难熔氧化物； 硫酸盐、硅酸盐与铝生成难挥发物； Ca 易与 PO43－、SO42－ 生成难解离的 Ca2P2O7 和 CaSO4 。 ; 抑制化学干扰的方法： （1）化学分离。 （2）使用高温火焰。 （3）加入释放剂，与干扰元素生成更稳定化合物，使待测元素释放出来。 例：锶和镧可有效消除磷酸根对钙的干扰。 （4）加入保护剂，与待测元素形成稳定的络合物，防止干扰物质与其作用。 例：加入EDTA生成 EDTA-Ca，避免磷酸根与钙作用。 ; 抑制化学干扰的方法： （5）加入缓冲剂，加入足够过量的干扰元素，使干扰趋于稳定。 例：用N2O—C2H2火焰测钛时，在试样和标准溶液中加入300mgL-1以上的铝盐，使铝对钛的干扰趋于稳定。 （6）加入基体改进剂。 （7）采用标准加入法。;4.5.2 电离干扰（ionization interference）; 电离干扰还与原子化器中待测元素原子的总浓度有关，总浓度越低，电离度越大。 电离干扰使标准曲线怎样弯曲？ 抑制电离干扰的方法： （1）加入大量消电离剂 ——— 易电离的 Li、Na、K、Cs 等碱金属盐，以抑制待测元素的电离。 （2）适当降低原子化器的温度。; 4.5.3 光谱干扰 （spectrum interference ）; （三）空心阴极灯有连续背景发射。 消除方法：空心阴极灯定期通电；换用纯度较高的空心阴极灯；另选分析线。 （四）待测元素与干扰元素的吸收谱线重叠。 消除方法：分离干扰物质，另选分析线。 （五）分子吸收和光散射（背景吸收）。 分子吸收和光散射也叫背景吸收干扰，主要是在原子化过程中所产生的光谱干扰，干扰严重时，不能进行测定。; 1.分子吸收： 原子化过程中生成的气体、氧化物、氢氧化物或盐类等分子对分析线的吸收。分子光谱是带状光谱，会在较宽的波长范围内产生干扰。 2.光散射： 原子化过程中生成的固体微粒使入射光产生的散射现象。 背景吸收干扰会使测定结果产生正偏差。石墨炉原子化法比火焰法产生的背景吸收干扰要严重得多。 如何消除？ 采用校正背景的方法来消除此干扰 。; 校正背景的方法：;（2）塞曼(Zeeman)效应背景校正法;; （3）用邻近的非吸收线校背景。 （4）用史密斯－海夫约背景校正器校背景。 利用空心阴极灯在很高灯电流电流的工作条件下，产生的自蚀现象来校正背景的装置。 较低灯电流时——测出总吸收； 很高???电流时——测出背景吸收； 二者之差——原子吸收。;4.5.4 物理干扰 (physical interference); 4.5.5 有机溶剂的影响