材料剖析测试的技术A卷.docVIP

第  PAGE 6 页/共 6 页 一、选择题（每题1分，共15分） 1、X射线衍射方法中，最常用的是（ ） A．劳厄法 B.粉末多晶法 C.转晶法 2、已知X射线定性分析中有三种索引，已知物质名称可以采用（ ） A.哈式无机相数值索引 B.无机相字母索引 C.芬克无机数值索引 3、电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中能用于测试1nm厚度表层成分分析的信号是（ ） A. 背散射电子 B.俄歇电子 C.特征X射线 4、测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用的方法是（ ） A.外标法 B.内标法 C.直接比较法 D.K值法 5、下列分析方法中分辨率最高的是（ ） A.SEM B.TEM C. 特征X射线 6、表面形貌分析的手段包括（ ） A.SEM B.TEM C.WDS D. DSC 7、当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（ ） A.光电子 B.二次电子 C.俄歇电子 D.背散射电子 8、透射电镜的两种主要功能（ ） A.表面形貌和晶体结构 B.内部组织和晶体结构 C.表面形貌和成分价键 D.内部组织和成分价键 9、已知X射线光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（ ） A.Co B.Ni C.Fe D.Zn 10、采用复型技术测得材料表面组织结构的式样为（ ） A.非晶体样品 B.金属样品 C.粉末样品 D.陶瓷样品 11、在电子探针分析方法中，把X射线谱仪固定在某一波长，使电子束在样品表面扫描得到样品的形貌相和元素的成分分布像，这种分析方法是（ ） A.点分析 B.线分析 C.面分析 12、下列分析测试方法中，能够进行结构分析的测试方法是（ ） A.XRD B.TEM C.SEM D.A+B 13、在X射线定量分析中，不需要做标准曲线的分析方法是（ ） A.外标法 B. 内标法 C. K值法 14、热分析技术不能测试的样品是（ ） A.固体 B.液体 C.气体 15、下列热分析技术中，（ ）是对样品池及参比池分别加热的测试方法 A.DTA B.DSC C.TGA 二、填空题（每空1分，共20分） 1、由X射线管发射出来的X射线可以分为两种类型，即 和 。 2、常见的几种电子衍射谱为单晶衍射谱、 、 、高级劳厄带斑点、 。 3、透射电镜的电子光学系统由 、 、 和 四部分组成 4、今天复型技术主要应用 方法来截取第二相微小颗粒进行分析。 5、扫描电子显微镜经常用的电子信息是 、 和 6、德拜照相法中的底片安装方法有 、 和 7、产生衍射的必要条件是 8、倒易点阵的两个基本特征是 和 9、透射电镜成像遵循 原理 三、名词解释（每题5分，共20分） 1、X射线强度 2、结构因子 3、差热分析 4、衍射衬度 四、简答题（每题5分，共20分） 阐述特征X射线产生的物理机制 给出物相定性与定量分析的基本原理 简述扫描电镜的结构。 简述热重分析应注意的问题 五、论述题（共25分） 1、从原理及应用方面指出X射线衍射、透射电镜中的电子衍射在材料结构分析中的异同点。 2、以体心立方（001）(011)的衍射为例，说明产生衍射的充分必要条件 一、选择题（每空1分，共15分） 1-5、BBBCB 6-10、ACBCA 11-15、CDCCB 二、填空题（每空1分，共20分） 1、连续X射线和特征X射线。2、多晶电子衍射谱、多次衍射谱、菊池线。 3、光学系统、样品室、放大系统、供电和真空系统 4、萃取复型 5、二次电子和背散射电子、吸收电子、特征X射线（任填3个） 6、正装法、反装法（倒装法）、45℃法（不规则法）7、 满足布拉格定律8、 H（hkl）垂直于正点阵（hkl）面；H（hkl）=1/d（hkl）9、 阿贝成像原理 三、名词解释（每题5分，共20分） 1、X射线的强度 X射线的强度是指行垂直X射线传播方向的单位面积上在单位时间内所通过的光子数目的能量总和。常用的单位是J/cm2.s。 2、结构因子 结构因子是指一个单胞对X射线的散射强度，由于衍射强度