Agilent3070常用元器件调试方法(Analog)选编.ppt

Agilent 3070常用元器件调试方法 * 一,电阻电容 1)电阻 在调试电阻的时候,I BUS,S BUS,G BUS 要设对,RE 值要设置合理.(图2是Agilent推荐的参数).通常debug方法:a,修改RE值 b,加G BUS c,加wait时间 d,加ed或en 如图1所示,在测试电阻R83时我们正确的程序应为: disconnect all connect s to VP2P5 connect i to “PHY1_REFCLK_125M_SEL“ !----I Bus尽量不要连电源和地 connect g to “GND” !----隔离点要加对位置 resistor 10k, 2.00, 2.00, re4, wb, ar100m 图1 图2 2)电容 在调试电容时,I BUS,S BUS,G BUS 要设对,RE,FR值要设置合理.(图4是Agilent推荐的参数) 常用debug方法:a,修改RE值 b,加G BUS c,加wait时间 d,加ed或en e,修改fr值 如图3所示,在测试电容C7115时我们正确的程序应为: disconnect all connect s to “GND” connect i to “VP5P0_EN” !----I Bus尽量不要连电源和地 connect g to “+12V“ !----隔离点要加对位置 capacitor 0.1u, 20.00, 20.00, fr1024, re3, wb, ar100.0m, nocomp 图3 图4 二,二极管,稳压二极管,三极管 图5 稳压管 图7 NPN 三极管 图6 二极管 图8 PNP 三极管 图5 稳压管 图9 发光二极管 1)二极管 在调试二极管的时候,I BUS,S BUS 要设对,CO电压,IDC电流值要设置合理.I BUS连二极管的正极,S BUS连二 极管的负极.正常状态下,CO一般不超过4.5V,IDC不超过30m.调试时要把I BUS,S BUS反过来测试,确保反向后能测试FAIL. 常用调试方法:a)修改idc b)修改co, c)加wait时间 d)加ed(注意:二极管测试不能加EN) 如图6所示,在测试二极管CR18时我们正确的程序应为: disconnect all connect s to “1 connect i to “2 diode 850m, 450m, idc10.0m, co3.30, ar850m 2)稳压二极管 稳压二极管的I BUS,S BUS刚好和二极管的连接是反的,I BUS连稳压管的负极,S BUS连稳压管的正极.正常状态下,CO减去稳压管额定压不大于3V,IDC不超过30m.调试时要把I BUS,S BUS反过来测试,确保反向后能测试FAIL. 常用调试方法:a)修改idc, b)修改co, c)加wait时间, d)加ed(注意:二极管测试不能加EN) 如图5所示,在测试稳压管CR107时我们正确的程序应为: disconnect all connect s to “2 connect i to “1 zener 2.5, 10.3, 10.0, idc15m, co4.2, ar2.5 1)发光二极管 发光二极管除了测试二极外,还可以测试光的颜色和亮度,主流器件有Smart finn,Ultra finn 二极管测试: (方法和普通二极管相同) 如图9所示,在测试二极管LED16时我们正确的程序应为: disconnect all connect s to “K connect i to “A diode 2.4,1.6, idc10.0m, co3.30, ar2 亮度和颜色测试: Smart finn需要上5V电压,通过PIN卡驱动LED使其发光,然后测试Smart finn的信号PIN的频率和电压,频率值为颜色,电压值为亮度 test powered analog connect s to “A connect a to “K source dcv, amplitude 2.2, terminated 50, icompliance 1, on auxiliary