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自动控制理论（第2版）（夏德钤 翁贻方）第四章根轨迹
第四章 根轨迹法;§４－１根轨迹的基本概念; 令开环增益Ｋ从０变化到∞，用解析方法求不同Ｋ所对应的特征根的值，将这些值标在Ｓ平面上，并连成光滑的粗实线，这就是该系统的根轨迹。箭头表示随着Ｋ值的增加，根轨迹的变化趋势。;;由以上分析得知：;;这就是满足特征方程的幅值条件和相角条件，是绘制系统根轨迹的重要依据。
现进一步将绘制根轨迹的幅值条件和相角条件转换成实用的形式。;此时，幅值条件和相角条件可写成;×;§４－１根轨迹的基本概念;§４－２绘制根轨迹的基本规则;幅值条件改写;§４－２绘制根轨迹的基本规则;§４－２绘制根轨迹的基本规则;×;§４－２绘制根轨迹的基本规则;§４－２绘制根轨迹的基本规则;例４－２;§４－２绘制根轨迹的基本规则;§４－２绘制根轨迹的基本规则;§４－２绘制根轨迹的基本规则;§４－２绘制根轨迹的基本规则; 在确定根轨迹与虚轴的交点，求出分离点，并做出渐近线以后，根轨迹的大概趋势知道了，为了能较精确的画出根轨迹，需在分离点附近取几个试验点，使其满足相角条件。然后连成光滑曲线，最后逐渐靠近渐近线。;§４－２绘制根轨迹的基本规则;§４－２绘制根轨迹的基本规则;§４－３反馈控制系统的根轨迹分析;§４－３反馈控制系统的根轨迹分析;§４－３反馈控制系统的根轨迹分析;§４－３反馈控制系统的根轨迹分析;§４－３反馈控制系统的根轨迹分析;§４－３反馈控制系统的根轨迹分析;§４－３反馈控制系统的根轨迹分析;;§４－３反馈控制系统的根轨迹分析;§４－３反馈控制系统的根轨迹分析;§４－３反馈控制系统的根轨迹分析;§４－３反馈控制系统的根轨迹分析;
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