EIA-364-108阻抗反射系数返射损耗和电压驻波比测试程序.doc

頁次: 19-15- PAGE 7 EIA測試規范（系列十五）（上） EIA-364-108阻抗（impedance）,反射系數 (Reflection Coeffcient)﹐反射損耗（Return Loss)﹐和電壓駐波比（VSWR） 簡介 1范圍 　　　　這個測試程序應用在連結元件上﹐比如電子連接器和纜線整合元件待。 2目的 　 這個標准敘述如何在時域和頻域上測量阻抗﹐反射系數﹐反射損耗﹐和電壓駐波比等項目。 3定義 1量測系統爬昇時間 　　　　量測儀器系統包括治具（fixture）﹐但不包含待測物﹐經過濾波程序（fil-tering）所得到的爬昇時間。爬昇時間通常是量測步階訊號10％－90％的位准. 2待測環境阻抗 　　　　 阻抗是由治具上的傳導訊號導體所呈現。阻抗是由輸線﹐終端電阻﹐接收端﹐訊號來源和治具寄生效應的結果。 3反射系數 　　　　　反射系數是線路上的任何一點 其反射電壓和入射電壓的比值﹐反射系數的數學表示式如下﹕ Gamma(T)=Vreflected/Vincident =(Zl-Zo)/(Zl+Zo)=S11　 其中Zl是治具或待測物的阻抗﹐而Zo為待測環境阻抗 4阻抗 　　　在某一特定頻率下﹐電路對於入射交流電而有的總體反應﹐它是電阻和電抗的結合﹐以歐姆（Ω）的形式表示﹐將阻抗表示成S參數的方程式如下所示﹕ Z=Zo*(1+S11 )/(1-S11)=R+jX=Zo*(1+rho)/(1-rho) 1.3.5反射損耗 　　　以分貝表示﹐在阻抗的不連續面反射能和入射能量的比值﹐從反射系數推算反射損耗的數學表示式如下﹕ Return Loss=20log10 |r|=20log10 |Sn| 1.3.6電壓駐波比（VSWR） 　　　　　在一條線路上電壓的最大值和最小值的比﹐VSWR可用以下的式子表示﹕ VSWR=|Vmax|/|Vmin|=|Vinc|+Vren|/|Vinc-Vrefl|　 或者 VSWR =(1+|r|)/(1-|r|)　　　　　　 1.3.7.S參數﹐S11 Ｓ11　　是待測物入射端的反射系數﹐定義成反射電壓對入射電壓的比值。 1.3.8終端 　　　　連接在傳輸線末端的阻抗﹐通常是為了減小在傳輸線上的反射能量。 1.3.9步階振幅 　　　　忽略overshoot和undeshoot﹐位准為 　　　　0％和100％的電位差。 表一　建議測量系統爬昇時間 Table-Recommend measurement system rise (including fixture filtering) 2.測試資源 　　 　　　　　　　　 　　　　　 2.1.1.3差動訊號量測 　　　 測試設備必須要有直接進行差訊號量測的功能﹐或在進行多次的單動訊號測量後可計算出差動訊號阻搞抗。 2.1.2.1領域 　　　　2.1.2.1可使用向量綱路分析儀或阻抗分析儀。 2.1.2.2差動訊號的量測必須使用綱路分析儀和balun. 　當要建立時域測量結果的關系時必須要非常地小心﹐比兩種測量結果的關系是非常復雜的﹐在沒有深入地計算和了解之前不可使用頻寬＝0.35/ 爬昇時間的關系式。 2.1設備 時域 2.1.1.1較偏好使用時域反射儀（TDR）﹐也可以使用示波器和脈動產生的綱路分析儀也可以使用。 2.1.1.2可變化的爬昇時間 　　　設備必須提供可變化訊號爬昇時間的功能以達到如表一所示的“建議測量系統爬昇時間要求”﹐這項功能可能包括在測試設備中﹐或者需要額外的濾波功能和軟體。 2.2治具 　　　　治具必須設計成可以表現出待測物的特性﹐而治具的幾何布局﹐材料﹐傳輸路徑等的變動范圍必須要認可是在可以接受的范圍之內。 注意一由于治具的寄生虫效應﹐治具的幾何布局和材料特性會影響到測量的結果﹐通常產品的用途會決定最有意義的方法來設計治具。 2.2.1待測物環境阻抗 　 除非在參考文件中有其他特別規定,否則待測物環境阻抗必須要匹配測試設備的阻抗﹐通常單動(single-ended)量測要求50歐姆的阻抗而差動(differental)量測要求100歐姆。 2.2.2終端 當使用終端電阻時﹐在測量的頻率范圍內必須注意到盡量減小終端所產生的電抗寄生效應。 2.2.3校正事項 2.2.3.1時域 治具必需設計成在時域測量待測物時可以分辨出待測物近端和遠端的現象﹐校正參考面必須設計盡量接近待測物﹐當治具所包含的PC板上的電路線為連結兩個連接器時﹐那么就必須設計可提供測量”量測系統