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集成电路与器件工艺原理;外延工艺;;;外延设备 主体反应室分卧式、立式、桶式;;外延工艺的体缺陷;;100面层错;111面层错;;四探针法测电阻率;;;;氧化工艺;;;二氧化硅的显微结构;;;;;;氢氧合成水汽氧化;;;用TCA(三氯乙烷)进行的掺氯氧化;;;掺杂工艺(1)-----扩散工艺;扩散过程;;我公司目前扩散工艺:;.磷的液---固扩散:POC l3的扩散 ;;扩散参数的测量:;5掺杂工艺(2)------离子注入工艺;;;;;;;;;;;九.离子注入的缺点:
1 成本较高。
2 有注入损伤,若退火不当,会应响成品 率。;6.光刻工艺;;;;;;;2.分步讲解:;。;;;;;;;七.光刻的主要质量问题:; 2 .过蚀刻。 ; 3 蚀刻未净(小岛)。 ;;10. 针孔。 ;.干刻工艺----光刻工艺的新进展。 ;;;;;;;7.物理气相淀积-----铝层贱射工艺(SPUTTUER) ;;;;;;铝硅接触的质量问题及解决办法 ;;铝导线上铝原子的电迁移;;CVD工艺原?? (化学气相淀积);;;;;;;;;;;;.磷硅玻璃PSG淀积: ;;;.多重内连线与平坦化工艺;;化学清洗原理(兼谈化学试剂的安全使用) ;二.硅片表面洁净度;;;;.主要的清洗剂。 ;一号液使用注意事项;;;;;.电子束蒸发工艺原理;;;;12.电镀银工艺.;;;;15.洁净室知识 IC线的生产环境控制;二.空气环境控制:;;人身发尘量 ;.人员产生最大尘埃粒径;;;DI水的测量;工业特气;.静电防护。 ;;;;化学试剂的纯度;
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