单节产品测试方法与原理教程.pptVIP

BLUEWAY ELECTRONIC CO .，LTD;1、现有产品测试种类;（1）BQ+一次保护;（2）BQ+二次保护;（3）加密IC+一次保护;性能A+ICT;BLUEWAY ELECTRONIC CO .，LTD;（一）烧录校准校验一体化 ; 设备介绍 –内部构件; 烧录校准界面;校验界面;1、烧录过程: 读取Device Version,如果一致则进行下一步,不一致直接返回 进入ROM模式烧录: Get the 1st 2 rows (1 page) of program flash 分两次读取,每次都要验证校验和 erase the 1st page of program flash和要烧录的ROM文件对比Device,不一致Write Data Flash data后返回 Erases entire Data Flash 进行校验和验证 写32个页面并得到总校验和,每个页面都要校验和的验证 验证总校验和 Write Data Flash data 每次写32字节,然后对32字节校验和验证 RunGGCode ;2、校准过程： . 测试板提供高精准数控基准电压源3600mV+/-0.25mV; 基准电流源1000mA+/-0.25mA； . GG IC通过AD转换读取电压/电流(AD转换精度1mv/mA) . 安捷伦读取测试板的电压/电流值写入到GG IC内部（写入精度0.499mv/mA）； . GG IC内部比较AD获取的与安捷伦写 入的电压/电流值，更新Ref Voltage与CC Gain； ;3、校验过程： . 测试板提供高精准数控基准电压源3800mV+/-0.25mV; 基准电流源600mA+/-0.25mA； . 安捷伦读取测试板的电压/电流/温度值与 GG IC通过AD转换读取电压/电流/温度值相比较,差值在规格范围内为OK否则NG。 .将GG IC内读取的主要ROM文件内容与标准内容文件相比较，完全一致为OK,否则为NG。 ;Blueway 校准校验一体化设备 Tester firmware;;　;（二）性能设备 ; 内部构造;测试界面;单节性能测试项目;单节性能测试项目;单节性能测试项目;单节性能测试项目;单节性能测试项目;1、自耗电测试(正常、休眠）;2、过充测试单元;;4、过流测试 ;5、内阻测试方式;;测试列表各项目介绍 【序号】测试序号（不可修改）； 【测试项目名称】项目名称（不可修改）; 【工作电压】电池两端电压; 【上限】参数正误差范围； 【下限】参数负误差范围； 【测试结果】测试值（不可修改）； 【单位】测试项目的单位; 【测试条件】测试每一个项目时,所需??的条件. 【测试方式】主要因各种IC特性不同,采用不同的方式. 【延迟】设置测试等待的时间量； 【选择】选择该项目测不测试； ;调试的一些说明