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统计过程控制SPC;Agenda;Agenda;统计过程控制 Statistical Process Control;Process 过程和Variation 变异 (变差) Common Cause 一般原因（普通原因、机遇原因） Special Cause 特殊原因（非机遇原因） Statistically Controlled 统计控制状态（“受控”）;Process 过程：将输入转化为输出的一组彼此相关的资源和活动. Variation 变异 (变差)：Common Variation, Special Variation;一般原因 vs. 特殊原因;SPC 目的 – 改进;原因;大小; Statistically Controlled 统计控制状态(“受控”) 仅存在造成变异的一般原因，特殊原因已经消除。 该过程输出的产品的特性的总体分布(曲线)的位置、分布、形状无变化，可按照预测继续生产相同分布的(一定比率的)符合规范的产品。;规格 Spec （标准值Criterion + 公差Tolerance）;控制限 Control Limit，CL 上控制限 Upper Control Limit，UCL 下控制限 Lower Control Limit，LCL 说明： *并不是目标值或规格限值??而是来自过程的自然变化和抽样计划，然后，由实测的数据计算出来的。用于解释统计控制数据。 * 当过程处于“受控”状态，控制限可用来解释过程能力。;均值(平均值) Average，X (Xbar) = (X1+X2+…+Xn) / n 中位数（中值，中间值）Median，Xmed：Xi大小排列，中间的那个 （* 该值和比它大及比它小的数值是等差的，Xmed = Xmin + R/2） 众数 Mode ：出现次数最多的那个 全距，变差，极差 R (Range) = Max(X1,..,Xn) - Min(X1,…,Xn) （步差，移动极差 Moving Range，MR） 方差（Variance），标准差σ，Sigma（Standard Deviation） 平均差：一组数据值与其均值之差的绝对值的平均数;区别：公差D 和 全距R平均值 和 中位数、众数标准差 和 平均差; 方差 标准差 样本方差 样本标准差;为什么用样本估计总体的方差时，分母的n必须改为(n-1) ？;那为什么平均数被固定后会限制数据的自由变化？;;全距、标准差、平均差;统计物理概念的总结;* D为公差（容差）。;精确度 和 准确度;过程能力;过程能力;应用Cpk计算过程能力的前提条件;x;-3σ;过程能力，Process Capability 过程能力指数，Process Capability Index;过程能力;要求 初期之过程能力Ppk=1.67 稳定之过程能力Cpk=1.33 Cpk1.33 过程能力不足 1.67=Cpk=1.33 过程能力满足 Cpk1.67 过程能力过足;思考题：6Sigma意味着什么?;思考题;思考题： 是否所有图中体现的特殊变异都是不好的、不受欢迎的？;思考题;Agenda;计数型(Attribute)：不连续的,计数的 如: 1,2,3; 好/坏, 计量型(Variable)：连续的,可测量的 如: 长度, 10米..电流: 1A 等;思考题：本公司的过程特性;练习;Agenda;第一组、分类 第二组、根据数据类型选择图型.绘图.读图 第三组、判定准则 第四组、一般原因分析 ;1.计量型控制图 A.平均值与全距(Xbar-R Chart) B. 单值图(I-MR) 2.计数型控制图 A.不良品率(p- Chart) B.不良品数(np- Chart) C.缺点数(c- Chart) D.单位缺点数(u- Chart).;1、分析用控制图: 先有数据，后有控制限。 A.决定方针用； B.制程分析用； C.制程能力研究用； D.为制程控制做准备。 2、控制用控制图: 先有控制限，后有数据。 用于控制制程品质，如有异常点，则： A.追查不正常原因； B.迅速消除此原因； C.研究采取防止此项原因重复发生的措施。;图型原则;控制线计算时机 ;步骤;选图 ;计量型数据控制图;计算X和R控制界限 ;参考值 ;某厂制造全銅棒,为控制其品质,选定內径为控制項目,並決定以X-R控制图來控制該制程的內径量度,並于每小時隨机抽取5个样本測定,共收集最近製程之数据125個,將其数据依測定順序及生产时间排列成25組,每組样本5個,每組样数5個,记录数据如下:;樣本組;樣本組;樣本組;X控制圖上下限:;R控制圖上下限:;UCL=43.4;R控制