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资料上传 资料名称綜合製程能力指數Cpk24资料格式PDF资料介绍綜合製程能力指數Cpk资料大小綜合製程能力指數Cpk分卷数量35718字节綜合製程能力指數Cpk: 同時考慮偏移及一致程度。 Cpk =  ( 1 - k ) x Cp 或 MIN {CPU,CPL} Ppk = ( 1 - k ) x Pp 或 MIN {PPU,PPL}   (X -μ)??  K = |Ca| =??──────? ?    (T/2)??  PS.製程特性定義 單邊規格(設計規格)因沒有規格上限或下限   沒有規格下限 Cp = CPU = Cpk   沒有規格上限 Cp = CPL = Cpk 評等參考 當Cpk值愈大,代表製程綜合能力愈好。 等級判定:依Cpk值大小可分為五級 等級 Cpk值 處理原則 A+ 1.67? ?≦??Cpk ? ?? ?? ?? ? 無缺點考慮降低成本 A 1.33? ?≦??Cpk??≦??1.67 維持現狀 B 1? ?? ?≦??Cpk??≦??1.33 有缺點發生 C 0.67??≦??Cpk??≦??1 ? ???立即檢討改善 D    ??Cpk??≦ 0.67 採取緊急措施,進行品質 改善,並研討規格? ?? ??? 製程能力指數Ca或k(準確度;Accuracy): 表示製程特性中心位置的偏移程度,值等於零,即不偏移。值越大偏移越大,越小偏移越小。 製程準確度Ca(Caoability of Accuracy) 標準公式 簡易公式   T=USL-LSL=規格上限-規格下限=規格公差 PS.單邊規格(設計規格)因沒有規格中心值,故不計算Ca 製造規格將單邊規格公差調整為雙邊規格,如此方可計算Ca     (Xbar - μ)??  (實績平均值 - 規格中心值) Ca(k)??= ──────? ?= ───────────     (T / 2)??  (規格公差/2) T=USL-LSL=規格上限-規格下限=規格公差 PS.製程特性定義   單邊規格(設計規格)因沒有規格中心值,故不計算Ca   製造規格將單邊規格公差調整為雙邊規格,如此方可計算Ca 當Ca = 0 時,代表量測製程之實績平均值與規格中心相同;無偏移 當Ca = ±1 時,代表量測製程之實績平均值與規格上或下限相同;偏移100% 評等參考 :Ca值愈小,品質愈佳。依Ca值大小可分為四級   等級 Ca值 處理原則 A   0  ≦ |Ca| ≦ 12.5% 維持現狀 B 12.5% ≦ |Ca| ≦ 25% 改進為A級 C  25% ≦ |Ca| ≦ 50% 立即檢討改善 D  50% ≦ |Ca| ≦ 100% 採取緊急措施,全面檢討 必要時停工生產? ?? ?? ?   製程精密度Cp(Caoability of Precision) 製程能力指數Cp、Pp、CPU、CPL(精密度;Precision): 表示製程特性的一致性程度,值越大越集中,越小越分散。 或 : 雙邊能力指數(長期) : 雙邊績效指數(短期) : 單邊上限能力指數 : 單邊下限能力指數 USL: 特性值之規格上限;即產品特性大於USL在工程上將造成不合格 LSL: 特性值之規格下限;即產品特性小於LSL在工程上將造成不合格 : 製程平均數估計值;即製程目前特性值的中心位置 : 製程標準差估計值;即製程目前特性值的一致程度 PS.製程特性定義   單邊規格(設計規格)因沒有規格上限或下限   沒有規格下限 Cp = CPU = Cpk   沒有規格上限 Cp = CPL =??Cpk 製程精密度Cp(Caoability of Precision) 量測製程之實績平均值與規格中心的差異性。     (USL-LSL)   (規格上限-規格下限) Cp = ──────? ?= ───────────     6 σ   (6個標準差) PS.單邊規格(設計規格)因沒有規格上限或下限     (USL-X)??  (規格上限-平均值) Cpu? ? = ──────? ?= ───────────     3 σ   (3個標準差)     (X -LSL)??  (平均值-規格下限) Cpl? ? = ──────? ?= ───────────     3 σ   (3個標準差) 估計標準差(Estimated Standard Deviation) ? ? 1. 當 STD TYPE=TOTAL;製程變異存有特殊原因及共同原因時,以此估計標準差。 2. 當 STD TYPE=sbar/c4;使用XBAR-s管制圖分析製程,製程顯示在管制狀態下且特性的分配為常態時,以此估計標

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