红外成像阵列与系统-2.pptVIP

第二章非致冷型红外焦平面阵列原理; 本章主要介绍热探测器件的红外阵列的原理以及主要的限制。; 成像元件是受单元探测器吸收的辐射光所影响。 入射光能量下温度增加的热流量公式，温度的增加依赖于探测机构。 最重要的探测器件是电阻型测辐射热计。 ; 传感器受入射红外辐射光加热温度变化由以下方式测的:; 热探测像素阵列，每个像素包括一个连接到衬底的敏感区。红外辐射光照在一个探测像素上，被敏感区域吸收，引起其温度升高，热量从敏感区流向周围的环境。 ; 热传导， 热对流， 热辐射。 ;1）热量敏感区沿支撑物向衬底; 2）如果像素之间是相邻的话，热量从一个像素直接流向邻近的另外一个像素，这被称作横向热流通。必须加以避免，因为它会影响景物像的分辨率； ３）如果阵列没有固定在一个抽空的封装盒里，热量会流向周围的大气。;;热辐射是第三种热传递方式。 敏感元件向周围辐射热量，周围环境也向其辐射热量。对热成像阵列这是理想状况。 如果主要热损失是辐射性的，则阵列是受背景限制，这种限制对于工作性能影响是非常大。; 支撑结构是取得高性能热成像阵列的关键。 ;支撑结构具有三项功能： 热机械支撑；